一种半导体检测用探针平台

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202121568154.2
申请日
2021-07-12
公开(公告)号
CN214895454U
公开(公告)日
2021-11-26
发明(设计)人
李云峰
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市相城区太平街道邢店村
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
代理机构
深圳市宾亚知识产权代理有限公司 44459
代理人
黄磊
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
半导体检测用探针平台 [P]. 
林艺宾 .
中国专利 :CN115078776A ,2022-09-20
[2]
一种半导体检测用四探针 [P]. 
孙铭 .
中国专利 :CN212483756U ,2021-02-05
[3]
一种半导体检测用四探针 [P]. 
杨博 .
中国专利 :CN213398671U ,2021-06-08
[4]
一种半导体检测探针平台 [P]. 
肖遵保 ;
许建亚 .
中国专利 :CN210534002U ,2020-05-15
[5]
一种半导体检测探针平台 [P]. 
赵强 ;
张静 .
中国专利 :CN213689843U ,2021-07-13
[6]
一种半导体检测用探针台 [P]. 
朱丽华 ;
曹祥俊 .
中国专利 :CN113970658A ,2022-01-25
[7]
一种半导体检测用探针台 [P]. 
赖生雄 .
中国专利 :CN117388544A ,2024-01-12
[8]
一种半导体检测用探针台 [P]. 
赖生雄 .
中国专利 :CN117388544B ,2024-03-15
[9]
一种半导体检测用探针台 [P]. 
朱丽华 ;
曹祥俊 .
中国专利 :CN113970658B ,2024-02-23
[10]
一种半导体检测探针平台 [P]. 
肖遵保 ;
许建亚 .
中国专利 :CN110687115A ,2020-01-14