一种半导体检测用探针台

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111231263.X
申请日
2021-10-22
公开(公告)号
CN113970658B
公开(公告)日
2024-02-23
发明(设计)人
朱丽华 曹祥俊
申请人
深圳台达创新半导体有限公司
申请人地址
518120 广东省深圳市大鹏新区葵涌街道葵新社区灵海路2号东创智能科技产业园4栋厂房101、201
IPC主分类号
G01R1/067
IPC分类号
代理机构
合肥汇融专利代理有限公司 34141
代理人
杨家坤
法律状态
授权
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
一种半导体检测用探针台 [P]. 
朱丽华 ;
曹祥俊 .
中国专利 :CN113970658A ,2022-01-25
[2]
一种半导体检测用探针台 [P]. 
赖生雄 .
中国专利 :CN117388544A ,2024-01-12
[3]
一种半导体检测用探针台 [P]. 
赖生雄 .
中国专利 :CN117388544B ,2024-03-15
[4]
半导体检测用探针平台 [P]. 
林艺宾 .
中国专利 :CN115078776A ,2022-09-20
[5]
一种半导体检测用探针平台 [P]. 
李云峰 .
中国专利 :CN214895454U ,2021-11-26
[6]
一种半导体检测用四探针 [P]. 
孙铭 .
中国专利 :CN212483756U ,2021-02-05
[7]
一种半导体检测用四探针 [P]. 
杨博 .
中国专利 :CN213398671U ,2021-06-08
[8]
一种半导体检测探针平台 [P]. 
肖遵保 ;
许建亚 .
中国专利 :CN210534002U ,2020-05-15
[9]
一种半导体检测探针平台 [P]. 
肖遵保 ;
许建亚 .
中国专利 :CN110687115A ,2020-01-14
[10]
一种半导体检测用测试台 [P]. 
张静 ;
赵浩 ;
陈博 ;
黎载红 .
中国专利 :CN215116615U ,2021-12-10