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一种半导体检测用探针台
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111231263.X
申请日
:
2021-10-22
公开(公告)号
:
CN113970658B
公开(公告)日
:
2024-02-23
发明(设计)人
:
朱丽华
曹祥俊
申请人
:
深圳台达创新半导体有限公司
申请人地址
:
518120 广东省深圳市大鹏新区葵涌街道葵新社区灵海路2号东创智能科技产业园4栋厂房101、201
IPC主分类号
:
G01R1/067
IPC分类号
:
代理机构
:
合肥汇融专利代理有限公司 34141
代理人
:
杨家坤
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-02-23
授权
授权
共 50 条
[1]
一种半导体检测用探针台
[P].
朱丽华
论文数:
0
引用数:
0
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0
朱丽华
;
曹祥俊
论文数:
0
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0
曹祥俊
.
中国专利
:CN113970658A
,2022-01-25
[2]
一种半导体检测用探针台
[P].
赖生雄
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0
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0
机构:
扬州奕丞科技有限公司
扬州奕丞科技有限公司
赖生雄
.
中国专利
:CN117388544A
,2024-01-12
[3]
一种半导体检测用探针台
[P].
赖生雄
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
扬州奕丞科技有限公司
扬州奕丞科技有限公司
赖生雄
.
中国专利
:CN117388544B
,2024-03-15
[4]
半导体检测用探针平台
[P].
林艺宾
论文数:
0
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0
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0
林艺宾
.
中国专利
:CN115078776A
,2022-09-20
[5]
一种半导体检测用探针平台
[P].
李云峰
论文数:
0
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0
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0
李云峰
.
中国专利
:CN214895454U
,2021-11-26
[6]
一种半导体检测用四探针
[P].
孙铭
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0
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孙铭
.
中国专利
:CN212483756U
,2021-02-05
[7]
一种半导体检测用四探针
[P].
杨博
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0
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0
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0
杨博
.
中国专利
:CN213398671U
,2021-06-08
[8]
一种半导体检测探针平台
[P].
肖遵保
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0
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0
肖遵保
;
许建亚
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许建亚
.
中国专利
:CN210534002U
,2020-05-15
[9]
一种半导体检测探针平台
[P].
肖遵保
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肖遵保
;
许建亚
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许建亚
.
中国专利
:CN110687115A
,2020-01-14
[10]
一种半导体检测用测试台
[P].
张静
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张静
;
赵浩
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赵浩
;
陈博
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陈博
;
黎载红
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黎载红
.
中国专利
:CN215116615U
,2021-12-10
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