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嵌入式测试电路及其方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910751885.1
申请日：
2019-08-14
公开(公告)号：
CN110824333B
公开(公告)日：
2024-03-15
发明(设计)人：
斯特凡·达米安·图瑞斯
比拉玛·贡巴拉
克里斯蒂安·帕瓦奥莫雷拉
申请人：
恩智浦美国有限公司
申请人地址：
美国德克萨斯州
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：
倪斌
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-03-15 | 授权 | 授权 |