检查装置与检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211142349.X

申请日：

2022-09-20

公开(公告)号：

CN117782614A

公开(公告)日：

2024-03-29

发明(设计)人：

奥野泰弘篠塚典之松田祥士鸟饲俊介田中庸介暮井大起矶部晃生中本光太朗

申请人：

本田技研工业株式会社

申请人地址：

日本东京港区南青山2-1-1

IPC主分类号：

G01M17/007

IPC分类号：

H04N23/54

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

贺财俊;臧建明

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 17/007申请日:20220920
2024-03-29	公开	公开

共 50 条

[1]

检查装置、检查系统、检查方法 [P].

岸秀信 ;

日野真 .

中国专利 :CN114280057A ,2022-04-05

[2]

检查装置、检查方法 [P].

定金骏介 .

中国专利 :CN109073501A ,2018-12-21

[3]

检查装置、PTP包装机与检查方法 [P].

田口幸弘 .

日本专利 :CN111868506B ,2024-03-08

[4]

检查装置、PTP包装机与检查方法 [P].

田口幸弘 .

中国专利 :CN111868506A ,2020-10-30

[5]

检查夹具、检查装置及检查方法 [P].

铃川胜 ;

安井彰司 ;

松井洋道 ;

胜亦俊二 .

中国专利 :CN107219449A ,2017-09-29

[6]

检查装置、检查系统以及检查方法 [P].

今堀翔也 .

中国专利 :CN114264928A ,2022-04-01

[7]

检查系统、检查装置以及检查方法 [P].

碓井隆 ;

高安俊贵 ;

渡部一雄 ;

大西敦郎 ;

高桥博 ;

砂押贵光 .

中国专利 :CN115107830A ,2022-09-27

[8]

检查装置、检查系统以及检查方法 [P].

冈本学 ;

今堀翔也 .

日本专利 :CN112798924B ,2024-08-06

[9]

检查装置、检查系统以及检查方法 [P].

小口智 ;

久利龙平 ;

金井政史 .

中国专利 :CN110220922A ,2019-09-10

[10]

检查装置、检查单元及检查方法 [P].

家永裕文 ;

丸小庆介 .

中国专利 :CN109716124A ,2019-05-03

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