一种CAF测试装置及测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011005331.6
申请日
2020-09-22
公开(公告)号
CN112034218B
公开(公告)日
2024-04-05
发明(设计)人
杨颖 梁朝辉 周亮 洪瑛旭 吴报瑞 陈泽坚 方亮
申请人
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请人地址
511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
G01R31/00
代理机构
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人
钟扬飞
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[11]
测试装置及测试装置的测试方法 [P]. 
陈文 ;
袁佳佳 .
中国专利 :CN121068168A ,2025-12-05
[12]
散热测试夹具及散热测试装置 [P]. 
江涛 ;
陈建群 .
中国专利 :CN210690097U ,2020-06-05
[13]
测试夹具及测试装置 [P]. 
齐健铭 ;
李飞 ;
赵世清 ;
王艳侠 ;
苗波 .
中国专利 :CN114046814A ,2022-02-15
[14]
测试夹具及测试装置 [P]. 
齐健铭 ;
李飞 ;
赵世清 ;
王艳侠 ;
苗波 .
中国专利 :CN216559014U ,2022-05-17
[15]
面向元器件批量测试的探针装置、测试装置及测试方法 [P]. 
胡晓星 ;
陶美吉 ;
朱小卫 .
中国专利 :CN119086995A ,2024-12-06
[16]
测试夹具及测试装置 [P]. 
陈东翼 ;
邢鹏飞 ;
王东海 ;
薛丁元 .
中国专利 :CN216956105U ,2022-07-12
[17]
面向元器件批量测试的探针装置、测试装置及测试方法 [P]. 
胡晓星 ;
陶美吉 ;
朱小卫 .
中国专利 :CN119086995B ,2025-07-15
[18]
纱线捻度测试装置及测试方法 [P]. 
赵小博 ;
董守刚 ;
杨玉波 ;
殷娜娜 .
中国专利 :CN118962087B ,2025-02-11
[19]
芯片的测试装置及测试方法 [P]. 
谷士豪 .
中国专利 :CN118294784A ,2024-07-05
[20]
纱线捻度测试装置及测试方法 [P]. 
赵小博 ;
董守刚 ;
杨玉波 ;
殷娜娜 .
中国专利 :CN118962087A ,2024-11-15