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显示屏Mura缺陷检测方法及装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010677857.2
申请日
:
2020-07-15
公开(公告)号
:
CN111882529B
公开(公告)日
:
2024-06-07
发明(设计)人
:
田欢欢
郑跃瑜
李浪浪
肖学军
申请人
:
苏州佳智彩光电科技有限公司
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市吴江经济技术开发区益和路258号
IPC主分类号
:
G06T7/00
IPC分类号
:
G06T7/11
G06T7/136
G06T7/187
G06T5/20
代理机构
:
深圳市添源创鑫知识产权代理有限公司 44855
代理人
:
姜书新
法律状态
:
授权
国省代码
:
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-06-07
授权
授权
共 50 条
[1]
基于Gaussian-Surface保边滤波的显示屏Mura缺陷检测方法及装置
[P].
田欢欢
论文数:
0
引用数:
0
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0
田欢欢
;
郑跃瑜
论文数:
0
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0
郑跃瑜
;
李浪浪
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0
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0
李浪浪
;
肖学军
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0
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0
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0
肖学军
.
中国专利
:CN111882529A
,2020-11-03
[2]
显示屏mura缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质
[P].
周逸帆
论文数:
0
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0
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0
周逸帆
.
中国专利
:CN111598888A
,2020-08-28
[3]
一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法
[P].
肖君军
论文数:
0
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0
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0
肖君军
;
李雄杰
论文数:
0
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李雄杰
;
姚杏枝
论文数:
0
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0
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0
姚杏枝
.
中国专利
:CN107705290B
,2018-02-16
[4]
显示屏幕Mura缺陷检测方法
[P].
袁晟玮
论文数:
0
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机构:
湖南师范大学
湖南师范大学
袁晟玮
;
刘金平
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机构:
湖南师范大学
湖南师范大学
刘金平
;
彭晓辉
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0
机构:
湖南师范大学
湖南师范大学
彭晓辉
.
中国专利
:CN120807449A
,2025-10-17
[5]
显示屏显示缺陷检测方法及装置
[P].
苏灵艳
论文数:
0
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苏灵艳
;
周军
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周军
.
中国专利
:CN114331975A
,2022-04-12
[6]
显示屏显示缺陷检测方法及装置
[P].
苏灵艳
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机构:
合肥维信诺科技有限公司
合肥维信诺科技有限公司
苏灵艳
;
周军
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机构:
合肥维信诺科技有限公司
合肥维信诺科技有限公司
周军
.
中国专利
:CN114331975B
,2025-06-03
[7]
一种显示屏mura缺陷的检测方法及相关装置
[P].
张耀
论文数:
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0
张耀
;
曹保桂
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曹保桂
;
崔乔乔
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崔乔乔
;
张滨
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张滨
;
徐大鹏
论文数:
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0
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徐大鹏
.
中国专利
:CN114299070A
,2022-04-08
[8]
显示屏点缺陷、线缺陷和Mura缺陷判断方法、系统及装置
[P].
李凡
论文数:
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0
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机构:
深圳市明昌光电科技有限公司
深圳市明昌光电科技有限公司
李凡
;
任利
论文数:
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机构:
深圳市明昌光电科技有限公司
深圳市明昌光电科技有限公司
任利
;
陈俊龙
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机构:
深圳市明昌光电科技有限公司
深圳市明昌光电科技有限公司
陈俊龙
;
叶有通
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0
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机构:
深圳市明昌光电科技有限公司
深圳市明昌光电科技有限公司
叶有通
;
秦裕华
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0
机构:
深圳市明昌光电科技有限公司
深圳市明昌光电科技有限公司
秦裕华
;
辜孟林
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机构:
深圳市明昌光电科技有限公司
深圳市明昌光电科技有限公司
辜孟林
;
钟吉超
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机构:
深圳市明昌光电科技有限公司
深圳市明昌光电科技有限公司
钟吉超
;
杨竹叶
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0
机构:
深圳市明昌光电科技有限公司
深圳市明昌光电科技有限公司
杨竹叶
.
中国专利
:CN117152103B
,2024-06-07
[9]
显示屏缺陷检测方法及系统
[P].
赵同印
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵同印
.
中国专利
:CN113865830A
,2021-12-31
[10]
显示屏缺陷检测方法及系统
[P].
赵同印
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
苏州华兴源创科技股份有限公司
苏州华兴源创科技股份有限公司
赵同印
.
中国专利
:CN113865830B
,2024-07-05
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