一种显示屏mura缺陷的检测方法及相关装置

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申请号
CN202210221300.7
申请日
2022-03-09
公开(公告)号
CN114299070A
公开(公告)日
2022-04-08
发明(设计)人
张耀 曹保桂 崔乔乔 张滨 徐大鹏
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06T500 G06T711 G06T7136 G01N2188
代理机构
深圳腾文知识产权代理有限公司 44680
代理人
冼柏龙
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
显示屏Mura缺陷检测方法及装置 [P]. 
田欢欢 ;
郑跃瑜 ;
李浪浪 ;
肖学军 .
中国专利 :CN111882529B ,2024-06-07
[2]
一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法 [P]. 
肖君军 ;
李雄杰 ;
姚杏枝 .
中国专利 :CN107705290B ,2018-02-16
[3]
显示屏mura缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质 [P]. 
周逸帆 .
中国专利 :CN111598888A ,2020-08-28
[4]
一种补偿显示屏mura缺陷的方法及装置 [P]. 
黄剑辉 .
中国专利 :CN110503923A ,2019-11-26
[5]
显示屏显示缺陷检测方法及装置 [P]. 
苏灵艳 ;
周军 .
中国专利 :CN114331975A ,2022-04-12
[6]
显示屏显示缺陷检测方法及装置 [P]. 
苏灵艳 ;
周军 .
中国专利 :CN114331975B ,2025-06-03
[7]
显示屏、显示屏检测系统及显示屏检测方法 [P]. 
刘孟柯 ;
李金柱 .
中国专利 :CN111883575B ,2020-11-03
[8]
显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备 [P]. 
张会强 .
中国专利 :CN105259181A ,2016-01-20
[9]
显示屏幕Mura缺陷检测方法 [P]. 
袁晟玮 ;
刘金平 ;
彭晓辉 .
中国专利 :CN120807449A ,2025-10-17
[10]
一种显示屏检测系统及显示屏检测方法 [P]. 
李靖 ;
蒲方海 ;
苏伟健 .
中国专利 :CN116500058B ,2024-03-19