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一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201710792457.4
申请日
:
2017-09-05
公开(公告)号
:
CN107705290B
公开(公告)日
:
2018-02-16
发明(设计)人
:
肖君军
李雄杰
姚杏枝
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市南山区西丽镇深圳大学城哈工大校区
IPC主分类号
:
G06T700
IPC分类号
:
G06T713
G06T7143
G06T712
G06T7149
代理机构
:
深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248
代理人
:
孙伟
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-03-16
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20170905
2018-02-16
公开
公开
2021-07-02
授权
授权
共 50 条
[1]
一种AMOLED显示屏缺陷检测方法、系统及存储介质
[P].
肖君军
论文数:
0
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0
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肖君军
;
孙玉凤
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孙玉凤
.
中国专利
:CN108986069A
,2018-12-11
[2]
显示屏Mura缺陷检测方法及装置
[P].
田欢欢
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0
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机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
田欢欢
;
郑跃瑜
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机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
郑跃瑜
;
李浪浪
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机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
李浪浪
;
肖学军
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0
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0
机构:
苏州佳智彩光电科技有限公司
苏州佳智彩光电科技有限公司
肖学军
.
中国专利
:CN111882529B
,2024-06-07
[3]
一种AMOLED显示屏点线团在线缺陷检测方法
[P].
肖君军
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肖君军
;
孙玉凤
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孙玉凤
;
陈显锋
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陈显锋
.
中国专利
:CN108709893A
,2018-10-26
[4]
显示屏幕Mura缺陷检测方法
[P].
袁晟玮
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机构:
湖南师范大学
湖南师范大学
袁晟玮
;
刘金平
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机构:
湖南师范大学
湖南师范大学
刘金平
;
彭晓辉
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机构:
湖南师范大学
湖南师范大学
彭晓辉
.
中国专利
:CN120807449A
,2025-10-17
[5]
一种显示屏mura缺陷的检测方法及相关装置
[P].
张耀
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张耀
;
曹保桂
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曹保桂
;
崔乔乔
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崔乔乔
;
张滨
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张滨
;
徐大鹏
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徐大鹏
.
中国专利
:CN114299070A
,2022-04-08
[6]
显示屏mura缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质
[P].
周逸帆
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0
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周逸帆
.
中国专利
:CN111598888A
,2020-08-28
[7]
AMOLED显示屏
[P].
柯贤军
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柯贤军
;
张雪峰
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张雪峰
;
陈升东
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陈升东
;
周晓锋
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周晓锋
;
苏君海
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苏君海
;
李建华
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0
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李建华
.
中国专利
:CN206877999U
,2018-01-12
[8]
一种显示屏缺陷检测方法
[P].
陈怀新
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陈怀新
;
帅玲玉
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帅玲玉
;
王治玺
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0
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王治玺
.
中国专利
:CN114757913A
,2022-07-15
[9]
一种AMOLED显示屏
[P].
吴灿
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吴灿
;
江小英
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江小英
.
中国专利
:CN218471535U
,2023-02-10
[10]
一种AMOLED显示屏
[P].
常建兵
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常建兵
;
刘金强
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刘金强
;
刘玉成
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刘玉成
.
中国专利
:CN207353255U
,2018-05-11
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