一种半导体光学检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322885510.9

申请日：

2023-10-26

公开(公告)号：

CN221123443U

公开(公告)日：

2024-06-11

发明(设计)人：

赵江民

申请人：

合肥玖福半导体技术有限公司

申请人地址：

230000 安徽省合肥市经济技术开发区云门路158号厂房办公楼

IPC主分类号：

G01D11/30

IPC分类号：

G01D11/24 G01D11/00 B08B5/02

代理机构：

合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160

代理人：

张飞

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体光学检测设备 [P].

吴卫红 .

中国专利 :CN218121739U ,2022-12-23

[2]

一种半导体光学检测设备 [P].

王垚森 .

中国专利 :CN216900243U ,2022-07-05

[3]

一种半导体光学检测设备 [P].

潘光玉 ;

刘锋武 ;

叶涵 .

中国专利 :CN217521044U ,2022-09-30

[4]

一种半导体光学检测设备支撑装置 [P].

王建安 ;

徐兆存 .

中国专利 :CN221548202U ,2024-08-16

[5]

一种稳定的半导体光学检测设备支撑装置 [P].

徐建涛 ;

王燕平 ;

陈红德 .

中国专利 :CN221592248U ,2024-08-23

[6]

一种半导体光学检测设备支撑结构 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN218064225U ,2022-12-16

[7]

一种半导体光学检测设备用分类装置 [P].

安路 ;

孙小城 ;

杨世勇 .

中国专利 :CN221125904U ,2024-06-11

[8]

一种稳定的半导体光学检测设备支撑装置 [P].

王燕平 ;

秦志强 ;

刘锋 .

中国专利 :CN216556102U ,2022-05-17

[9]

一种半导体光学检测设备支撑结构 [P].

安发运 ;

高海军 .

中国专利 :CN213948500U ,2021-08-13

[10]

一种用于半导体设备的光学检测装置 [P].

王迪杏 ;

蒋伟 ;

王宁 ;

张阳 ;

秦文兵 ;

王金裕 ;

苗全 ;

盛路阳 ;

王伟 ;

顾育琪 .

中国专利 :CN211741035U ,2020-10-23

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