一种半导体光学检测设备

被引：0

申请号：

CN202220873293.4

申请日：

2022-04-15

公开(公告)号：

CN217521044U

公开(公告)日：

2022-09-30

发明(设计)人：

潘光玉刘锋武叶涵

申请人：

申请人地址：

518109 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区白云山新村国飞大厦3层B座304

IPC主分类号：

G01N2195

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

上海氦闪专利代理事务所(普通合伙) 31354

代理人：

李明;袁媛

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-30	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体光学检测设备 [P].

王垚森 .

中国专利 :CN216900243U ,2022-07-05

[2]

一种半导体光学检测设备 [P].

吴卫红 .

中国专利 :CN218121739U ,2022-12-23

[3]

一种半导体光学检测设备 [P].

赵江民 .

中国专利 :CN221123443U ,2024-06-11

[4]

一种半导体光学检测设备支撑结构 [P].

安发运 ;

高海军 .

中国专利 :CN213948500U ,2021-08-13

[5]

一种稳定的半导体光学检测设备支撑装置 [P].

王燕平 ;

秦志强 ;

刘锋 .

中国专利 :CN216556102U ,2022-05-17

[6]

一种半导体光学检测设备支撑结构 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN218064225U ,2022-12-16

[7]

一种半导体光学检测设备支撑装置 [P].

王建安 ;

徐兆存 .

中国专利 :CN221548202U ,2024-08-16

[8]

一种半导体光学检测设备用分类装置 [P].

安路 ;

孙小城 ;

杨世勇 .

中国专利 :CN221125904U ,2024-06-11

[9]

一种稳定的半导体光学检测设备支撑装置 [P].

徐建涛 ;

王燕平 ;

陈红德 .

中国专利 :CN221592248U ,2024-08-23

[10]

一种半导体光学检测设备用分类装置 [P].

聂剑凯 ;

李征 ;

濮伟伟 .

中国专利 :CN114146949A ,2022-03-08

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