一种稳定的半导体光学检测设备支撑装置

被引：0

申请号：

CN202123004236.7

申请日：

2021-12-02

公开(公告)号：

CN216556102U

公开(公告)日：

2022-05-17

发明(设计)人：

王燕平秦志强刘锋

申请人：

申请人地址：

214000 江苏省无锡市新吴区净慧东道66号4号楼1楼101室

IPC主分类号：

F16M1104

IPC分类号：

F16M1118 F16M1142 B62B506 B62B302

代理机构：

无锡智麦知识产权代理事务所(普通合伙) 32492

代理人：

宋春荣

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-17	授权	授权

共 50 条

[1]

一种稳定的半导体光学检测设备支撑装置 [P].

徐建涛 ;

王燕平 ;

陈红德 .

中国专利 :CN221592248U ,2024-08-23

[2]

一种半导体光学检测设备支撑装置 [P].

王建安 ;

徐兆存 .

中国专利 :CN221548202U ,2024-08-16

[3]

一种半导体光学检测设备支撑结构 [P].

安发运 ;

高海军 .

中国专利 :CN213948500U ,2021-08-13

[4]

一种半导体光学检测设备 [P].

潘光玉 ;

刘锋武 ;

叶涵 .

中国专利 :CN217521044U ,2022-09-30

[5]

一种半导体光学检测设备支撑结构 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN218064225U ,2022-12-16

[6]

一种半导体光学检测设备 [P].

吴卫红 .

中国专利 :CN218121739U ,2022-12-23

[7]

一种半导体光学检测设备 [P].

王垚森 .

中国专利 :CN216900243U ,2022-07-05

[8]

一种半导体光学检测设备 [P].

赵江民 .

中国专利 :CN221123443U ,2024-06-11

[9]

一种半导体光学检测设备用分类装置 [P].

安路 ;

孙小城 ;

杨世勇 .

中国专利 :CN221125904U ,2024-06-11

[10]

一种用于半导体设备的光学检测装置 [P].

易玲玲 .

中国专利 :CN217931448U ,2022-11-29

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