像素检测装置及像素检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410176731.5

申请日：

2024-02-08

公开(公告)号：

CN117877402A

公开(公告)日：

2024-04-12

发明(设计)人：

苏文铨萧又绮简灵樱

申请人：

友达光电股份有限公司

申请人地址：

中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行二路1号

IPC主分类号：

G09G3/00

IPC分类号：

G09G3/32

代理机构：

北京市立康律师事务所 11805

代理人：

梁挥

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G09G 3/00申请日:20240208
2024-04-12	公开	公开

共 50 条

[1]

像素检测装置及像素检测方法 [P].

黄书豪 ;

苏松宇 ;

陈瑞山 .

中国专利 :CN116246561B ,2025-09-09

[2]

像素电路及其检测方法 [P].

卢敏曜 ;

谢祥圆 ;

徐明震 ;

庄锦棠 .

中国专利 :CN110097842A ,2019-08-06

[3]

像素检测方法及装置、像素判断方法及装置 [P].

王宁 ;

徐科 ;

孔德辉 ;

艾吉松 ;

刘欣 ;

朱方 .

中国专利 :CN112752120A ,2021-05-04

[4]

像素检测电路、显示装置及检测方法 [P].

孙世成 ;

郭钟旭 ;

史大为 ;

张伟 ;

李存智 ;

王培 .

中国专利 :CN110608871A ,2019-12-24

[5]

显示装置及其像素检测方法 [P].

洪嘉泽 ;

郭庭玮 ;

徐圣淯 ;

林振祺 ;

郭家玮 .

中国专利 :CN108550336B ,2018-09-18

[6]

像素电路中晶体管的阈值电压漂移的检测方法及检测装置 [P].

汪军 ;

王东方 ;

闫梁臣 ;

李广耀 ;

王海涛 ;

王庆贺 ;

胡迎宾 ;

张扬 ;

苏同上 .

中国专利 :CN110264931A ,2019-09-20

[7]

像素缺陷检测方法和装置 [P].

刘将 ;

魏朝刚 .

中国专利 :CN104732900A ,2015-06-24

[8]

缺陷像素地址检测方法以及检测装置 [P].

安藤秀宪 ;

井元慎一郎 ;

东保宏宣 .

中国专利 :CN101996543A ,2011-03-30

[9]

像素暗态漏光的检测方法及检测装置 [P].

林旭林 ;

陈黎暄 .

中国专利 :CN108803097A ,2018-11-13

[10]

像素电路的检测方法、显示面板的驱动方法、显示装置及像素电路 [P].

袁粲 ;

李永谦 ;

蔡振飞 ;

袁志东 ;

韩东旭 .

中国专利 :CN107657923B ,2018-02-02

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