校准方法和校准装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811553798.7

申请日：

2018-12-19

公开(公告)号：

CN109940267B

公开(公告)日：

2019-06-28

发明(设计)人：

熊谷弘本吉隆福岛诚一郎

申请人：

申请人地址：

日本福冈县

IPC主分类号：

B23K26042

IPC分类号：

B23K2670

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

李庆泽;邓毅

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-04	授权	授权
2019-06-28	公开	公开
2019-07-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B23K 26/042 申请日:20181219

共 50 条

[1]

校准装置和校准方法 [P].

大泷勉 ;

大沢纪和 .

中国专利 :CN107956998A ,2018-04-24

[2]

校准装置和校准方法 [P].

伊藤辽佑 .

中国专利 :CN103796567B ,2014-05-14

[3]

校准方法和校准装置 [P].

拉尔夫·布劳曼 ;

托马斯·卢兹 ;

延斯·沃克曼 ;

弗朗兹·欧伯马利 .

中国专利 :CN106199475B ,2016-12-07

[4]

校准装置、校准系统和校准方法 [P].

山下纪之 ;

大场章男 .

中国专利 :CN111095923B ,2020-05-01

[5]

校准装置、校准方法及校准程序 [P].

迪伦·弗尔柴尔德·格拉斯 ;

弗洛伦特·费雷里 ;

宫下敬宏 .

中国专利 :CN105874350B ,2016-08-17

[6]

校准装置、校准方法和程序 [P].

梁承夏 ;

青木卓 ;

佐藤竜太 .

中国专利 :CN111670572A ,2020-09-15

[7]

校准方法及校准装置 [P].

山岸裕幸 ;

桂豪 ;

中川研治 .

中国专利 :CN109153249A ,2019-01-04

[8]

校准装置以及校准方法 [P].

三谷佳一 ;

田岛和幸 ;

山崎和良 .

中国专利 :CN114615441A ,2022-06-10

[9]

校准装置以及校准方法 [P].

三谷佳一 ;

田岛和幸 ;

山崎和良 .

日本专利 :CN114615441B ,2024-07-12

[10]

校准装置，用于校准的图表和校准方法 [P].

明官佳宏 .

中国专利 :CN113841384A ,2021-12-24

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