校准装置以及校准方法

被引：0

申请号：

CN202111454360.5

申请日：

2021-11-29

公开(公告)号：

CN114615441A

公开(公告)日：

2022-06-10

发明(设计)人：

三谷佳一田岛和幸山崎和良

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

H04N5247

IPC分类号：

G06F1629

代理机构：

中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038

代理人：

金光华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-10	公开	公开
2022-06-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 5/247 申请日:20211129

共 50 条

[1]

校准装置以及校准方法 [P].

三谷佳一 ;

田岛和幸 ;

山崎和良 .

日本专利 :CN114615441B ,2024-07-12

[2]

校准装置以及校准方法 [P].

冈室琢磨 ;

奥村资纪 ;

太田睦彦 ;

后藤和敏 ;

柳泽功 ;

稻冈靖雄 .

中国专利 :CN100557479C ,2008-03-19

[3]

校准装置以及校准方法 [P].

V·J·库卢维拉 ;

常田晴弘 .

中国专利 :CN111319034A ,2020-06-23

[4]

校准装置、校准方法以及校准程序 [P].

金野翔太 ;

片山贵登 .

中国专利 :CN115597650A ,2023-01-13

[5]

校准装置、校准方法以及校准图表装置 [P].

小柳津秀纪 .

中国专利 :CN111567031B ,2020-08-21

[6]

校准装置控制装置以及校准方法 [P].

津村阳一郎 ;

稻叶贵则 .

中国专利 :CN102113088A ,2011-06-29

[7]

校准装置、校准方法以及校准程序存储介质 [P].

坂野盛彦 ;

佐藤启二 .

中国专利 :CN108141570B ,2018-06-08

[8]

校准装置、校准方法及校准程序 [P].

迪伦·弗尔柴尔德·格拉斯 ;

弗洛伦特·费雷里 ;

宫下敬宏 .

中国专利 :CN105874350B ,2016-08-17

[9]

氚校准装置以及氚校准方法 [P].

陈志林 ;

杨阳 ;

陈平 ;

赖财锋 ;

李余 ;

程胜寒 ;

姜文翔 ;

彭述明 .

中国专利 :CN117970425A ,2024-05-03

[10]

内窥镜的校准装置以及校准方法 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

何裕源 .

中国专利 :CN114869202B ,2025-01-21

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