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集成电路的漏电测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010451624.0
申请日：
2020-05-25
公开(公告)号：
CN111596198A
公开(公告)日：
2020-08-28
发明(设计)人：
徐龙华
申请人：
申请人地址：
201210 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区创新西路778号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R3152
代理机构：
上海思牛达专利代理事务所(特殊普通合伙) 31355
代理人：
雍常明
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-09-22 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200525 |
| 2020-08-28 | 公开 | 公开 |