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集成电路的漏电测试
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201610140288.1
申请日：
2016-03-11
公开(公告)号：
CN105974296A
公开(公告)日：
2016-09-28
发明(设计)人：
R·P·米卡洛
申请人：
申请人地址：
英属开曼群岛大开曼岛
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R1900
代理机构：
北京戈程知识产权代理有限公司 11314
代理人：
程伟;王锦阳
法律状态：
专利申请权、专利权的转移
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-04-02 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/28 登记生效日:20210322 变更事项:专利权人 变更前权利人:格罗方德半导体公司 变更后权利人:格芯(美国)集成电路科技有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:英属开曼群岛大开曼岛 变更后权利人:美国加利福尼亚州 |
| 2022-02-25 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20160311 授权公告日:20190820 终止日期:20210311 |
| 2019-08-20 | 授权 | 授权 |
| 2016-10-26 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101684688542 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2016101402881 申请日:20160311 |
| 2016-09-28 | 公开 | 公开 |