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一种测试集成电路漏电流的系统及其测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201510888426.X
申请日
:
2015-12-02
公开(公告)号
:
CN105301337A
公开(公告)日
:
2016-02-03
发明(设计)人
:
敖翔
张永坡
王文廷
李斌
汪成龙
王群
申请人
:
申请人地址
:
233010 安徽省蚌埠市华光大道726号
IPC主分类号
:
G01R19165
IPC分类号
:
代理机构
:
济南舜源专利事务所有限公司 37205
代理人
:
陈海滨
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-04-06
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101654297935 IPC(主分类):G01R 19/165 专利申请号:201510888426X 申请日:20151202
2016-02-03
公开
公开
2018-05-18
授权
授权
共 50 条
[1]
一种集成电路漏电流测试电路及装置
[P].
张红芹
论文数:
0
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张红芹
;
宋陈平
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宋陈平
;
翟建波
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翟建波
.
中国专利
:CN213069126U
,2021-04-27
[2]
一种集成电路漏电流测试电路及装置
[P].
张红芹
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张红芹
;
宋陈平
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0
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宋陈平
;
翟建波
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翟建波
.
中国专利
:CN111257796A
,2020-06-09
[3]
集成电路的漏电测试
[P].
R·P·米卡洛
论文数:
0
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0
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0
R·P·米卡洛
.
中国专利
:CN105974296A
,2016-09-28
[4]
一种集成电路测试系统及其测试方法
[P].
余执钧
论文数:
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余执钧
;
邓焕
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邓焕
.
中国专利
:CN112834896A
,2021-05-25
[5]
集成电路测试方法和集成电路测试系统
[P].
张晓磊
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张晓磊
.
中国专利
:CN114264936A
,2022-04-01
[6]
集成电路的漏电测试方法
[P].
徐龙华
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徐龙华
.
中国专利
:CN111596198A
,2020-08-28
[7]
测试电路、集成电路及其测试方法
[P].
西田治雄
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西田治雄
;
石田卓也
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石田卓也
.
中国专利
:CN1519576A
,2004-08-11
[8]
集成电路远程测试系统及其测试方法
[P].
魏建中
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魏建中
;
罗雯
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罗雯
;
王群勇
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王群勇
;
蔡志刚
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蔡志刚
;
吴琦
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吴琦
;
焦慧芳
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焦慧芳
;
陈冬梅
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陈冬梅
;
王勇
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王勇
;
钟征宇
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钟征宇
;
唐锐
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唐锐
.
中国专利
:CN1588857A
,2005-03-02
[9]
集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法
[P].
徐正元
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徐正元
.
中国专利
:CN102854455A
,2013-01-02
[10]
集成电路测试系统的点检方法以及集成电路测试系统
[P].
金浩
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机构:
杭州领策科技有限公司
杭州领策科技有限公司
金浩
;
边垚垚
论文数:
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机构:
杭州领策科技有限公司
杭州领策科技有限公司
边垚垚
.
中国专利
:CN119926810A
,2025-05-06
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