集成电路测试方法及测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410151334.9

申请日：

2014-04-15

公开(公告)号：

CN103954877A

公开(公告)日：

2014-07-30

发明(设计)人：

张郑欣徐帅郑义

申请人：

申请人地址：

100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

IPC主分类号：

G01R3102

IPC分类号：

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

李迪

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-03-08	授权	授权
2014-07-30	公开	公开
2014-08-27	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101586352760 IPC(主分类):G01R 31/02 专利申请号:2014101513349 申请日:20140415

共 50 条

[1]

集成电路测试座及集成电路测试装置 [P].

程振 ;

李志雄 ;

刘旭 ;

王平 ;

燕祖德 .

中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08

[2]

集成电路测试装置 [P].

邢思波 .

中国专利 :CN113484736B ,2025-09-19

[3]

集成电路测试装置 [P].

邢思波 .

中国专利 :CN215493976U ,2022-01-11

[4]

集成电路测试装置及测试方法 [P].

陈戈 .

中国专利 :CN111871865A ,2020-11-03

[5]

集成电路测试装置 [P].

邢思波 .

中国专利 :CN113484736A ,2021-10-08

[6]

集成电路测试方法和采用该测试方法的集成电路测试装置 [P].

桥本好弘 .

中国专利 :CN1244925A ,2000-02-16

[7]

集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27

[8]

用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置 [P].

李远 ;

盖晓峰 .

中国专利 :CN222996768U ,2025-06-17

[9]

集成电路测试优化方法及其测试装置 [P].

罗斌 ;

汤雪飞 ;

凌俭波 ;

孟翔 .

中国专利 :CN102707225A ,2012-10-03

[10]

集成电路IC测试装置及测试方法 [P].

居水荣 .

中国专利 :CN104977527A ,2015-10-14

← 1 2 3 4 5 →