一种半导体测试分选装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620552958.6

申请日：

2016-06-08

公开(公告)号：

CN205684366U

公开(公告)日：

2016-11-16

发明(设计)人：

杨全忠陈祺李淑平

申请人：

申请人地址：

528051 广东省佛山市禅城区古新路45号

IPC主分类号：

B07C536

IPC分类号：

B07C5344

代理机构：

深圳市君胜知识产权代理事务所 44268

代理人：

王永文;刘文求

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-11-16	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体测试分选设备 [P].

谭杰 ;

陈祺 ;

罗江 ;

杜战 .

中国专利 :CN204866563U ,2015-12-16

[2]

一种半导体测试分选机 [P].

王建兰 ;

刘含燕 ;

程浩 .

中国专利 :CN220821482U ,2024-04-19

[3]

半导体测试分选设备 [P].

黄爱科 ;

刘亚军 ;

李建平 ;

杨乐 .

中国专利 :CN217940993U ,2022-12-02

[4]

半导体测试分选设备 [P].

黄伟 ;

陈祺 .

中国专利 :CN202909967U ,2013-05-01

[5]

半导体测试分选设备的震动盘 [P].

严向阳 ;

陈祺 .

中国专利 :CN206992062U ,2018-02-09

[6]

一种半导体测试分选机储料装置 [P].

彭勇 .

中国专利 :CN209232735U ,2019-08-09

[7]

一种半导体器件测试分选装置 [P].

卢永强 .

中国专利 :CN203750859U ,2014-08-06

[8]

一种半导体测试分选设备用的震动盘 [P].

袁凤江 ;

陈祺 .

中国专利 :CN207288098U ,2018-05-01

[9]

一种半导体测试分选设备 [P].

周申文 ;

刘蛟锋 ;

周海龙 ;

董敏 .

中国专利 :CN120001664A ,2025-05-16

[10]

一种半导体测试分选机 [P].

覃超 .

中国专利 :CN212540615U ,2021-02-12

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