一种半导体测试分选设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520591964.8

申请日：

2015-08-07

公开(公告)号：

CN204866563U

公开(公告)日：

2015-12-16

发明(设计)人：

谭杰陈祺罗江杜战

申请人：

申请人地址：

528051 广东省佛山市禅城区古新路45号

IPC主分类号：

B07C500

IPC分类号：

B07C502

代理机构：

北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290

代理人：

艾持平

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-12-16	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体器件测试分选设备 [P].

石云飞 .

中国专利 :CN213398633U ,2021-06-08

[2]

半导体测试分选设备的震动盘 [P].

严向阳 ;

陈祺 .

中国专利 :CN206992062U ,2018-02-09

[3]

半导体测试分选设备 [P].

黄爱科 ;

刘亚军 ;

李建平 ;

杨乐 .

中国专利 :CN217940993U ,2022-12-02

[4]

半导体测试分选设备 [P].

黄伟 ;

陈祺 .

中国专利 :CN202909967U ,2013-05-01

[5]

一种半导体测试分选设备用的震动盘 [P].

袁凤江 ;

陈祺 .

中国专利 :CN207288098U ,2018-05-01

[6]

一种半导体测试分选设备 [P].

周申文 ;

刘蛟锋 ;

周海龙 ;

董敏 .

中国专利 :CN120001664A ,2025-05-16

[7]

一种半导体测试分选装置 [P].

杨全忠 ;

陈祺 ;

李淑平 .

中国专利 :CN205684366U ,2016-11-16

[8]

一种半导体测试分选机 [P].

王建兰 ;

刘含燕 ;

程浩 .

中国专利 :CN220821482U ,2024-04-19

[9]

半导体测试分选机 [P].

黄爱科 ;

金承标 ;

马中丽 ;

周磊 ;

李粹武 .

中国专利 :CN213287735U ,2021-05-28

[10]

一种半导体器件的高速测试分选设备 [P].

薛克瑞 ;

白志坚 ;

杨成 .

中国专利 :CN104117488A ,2014-10-29

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