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半导体测试分选机
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202021454969.3
申请日：
2020-07-21
公开(公告)号：
CN213287735U
公开(公告)日：
2021-05-28
发明(设计)人：
黄爱科
金承标
马中丽
周磊
李粹武
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区沙井街道北环路岗头工业区辛养工业园B栋1楼
IPC主分类号：
B07C5344
IPC分类号：
代理机构：
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人：
张艳美;赵贯杰
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-05-28 | 授权 | 授权 |