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一种多芯片测试装置及测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010779327.9
申请日：
2020-08-05
公开(公告)号：
CN111722091A
公开(公告)日：
2020-09-29
发明(设计)人：
林仲康
石浩
张喆
申请人：
申请人地址：
102209 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250
代理人：
马吉兰
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-10-27 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200805 |
| 2020-09-29 | 公开 | 公开 |