半导体器件和制造半导体器件的方法

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专利类型
发明
申请号
CN200810086170.0
申请日
2008-03-17
公开(公告)号
CN101266975B
公开(公告)日
2008-09-17
发明(设计)人
伊藤哲也
申请人
申请人地址
日本神奈川县横浜市
IPC主分类号
H01L2706
IPC分类号
H01L27105 H01L27112 H01L21822 H01L218239 H01L218246
代理机构
隆天国际知识产权代理有限公司 72003
代理人
张龙哺;冯志云
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件和制造半导体器件的方法 [P]. 
朴瑛琳 ;
安世衡 ;
姜相列 ;
安敞茂 ;
郑圭镐 .
中国专利 :CN112103290A ,2020-12-18
[2]
半导体器件和制造半导体器件的方法 [P]. 
朴瑛琳 ;
安世衡 ;
姜相列 ;
安敞茂 ;
郑圭镐 .
韩国专利 :CN112103290B ,2025-12-23
[3]
半导体器件和制造半导体器件的方法 [P]. 
朴瑛琳 ;
安世衡 ;
姜相列 ;
安敞茂 ;
郑圭镐 .
韩国专利 :CN120076323A ,2025-05-30
[4]
半导体器件和制造半导体器件的方法 [P]. 
肱冈健一郎 ;
久米一平 ;
井上尚也 ;
白井浩树 ;
川原润 ;
林喜宏 .
中国专利 :CN102254916B ,2011-11-23
[5]
半导体器件和制造半导体器件的方法 [P]. 
井胁孝之 ;
伊藤孝政 ;
清水香奈 .
中国专利 :CN102280473A ,2011-12-14
[6]
半导体器件的制造方法和半导体器件 [P]. 
望月博 ;
奥和田久美 ;
金谷宏行 ;
日高修 .
中国专利 :CN1149659C ,1998-05-13
[7]
半导体器件的制造方法及半导体器件 [P]. 
冈崎勉 ;
冈田大介 ;
池田良广 ;
塚本惠介 ;
福村达也 ;
宿利章二 ;
原田惠一 ;
岸浩二 .
中国专利 :CN1622311A ,2005-06-01
[8]
半导体器件以及半导体器件的制造方法 [P]. 
山本阳一 ;
服卷直美 ;
坂本美里 ;
加藤芳健 .
中国专利 :CN102148228A ,2011-08-10
[9]
半导体器件和制造该半导体器件的方法 [P]. 
姜埈求 ;
姜相列 ;
金润洙 ;
李珍秀 ;
丁炯硕 ;
曹圭镐 .
中国专利 :CN110504219A ,2019-11-26
[10]
半导体器件和制造这种半导体器件的方法 [P]. 
金荣宽 ;
朴兴秀 ;
朴泳旭 ;
李相忍 ;
张允僖 ;
李钟镐 ;
崔城济 ;
李承桓 ;
林载顺 ;
李周远 .
中国专利 :CN1284747A ,2001-02-21