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一种半导体芯片检测装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202121985114.8
申请日：
2021-08-23
公开(公告)号：
CN215728627U
公开(公告)日：
2022-02-01
发明(设计)人：
陈增力
颜玮
王斌
王广军
李晓星
申请人：
申请人地址：
239000 安徽省滁州市镇江路5号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
合肥左心专利代理事务所(普通合伙) 34152
代理人：
吴朝
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-02-01 | 授权 | 授权 |