一种半导体芯片引脚检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821292756.8

申请日：

2018-08-13

公开(公告)号：

CN208567742U

公开(公告)日：

2019-03-01

发明(设计)人：

刘增红常浩薛良

申请人：

申请人地址：

300000 天津市滨海新区滨海高新区华苑产业区海泰西路18号南2楼一层101-10

IPC主分类号：

G01B514

IPC分类号：

G01B2102

代理机构：

北京沁优知识产权代理事务所(普通合伙) 11684

代理人：

姚艳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-03-01	授权	授权
2021-05-14	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01B 5/14 登记生效日:20210506 变更事项:专利权人变更前权利人:拓闻（天津）电子科技有限公司变更后权利人:天津芯成测控技术有限公司变更事项:地址变更前权利人:300000 天津市滨海新区滨海高新区华苑产业区海泰西路18号南2楼一层101-10 变更后权利人:300000 天津市滨海新区天津滨海高新区华苑产业区海泰西路18号南2楼4033

共 50 条

[1]

一种半导体芯片引脚检测装置 [P].

阮永红 .

中国专利 :CN214333713U ,2021-10-01

[2]

一种半导体芯片引脚检测装置 [P].

彭西密 ;

孙维亮 .

中国专利 :CN223449979U ,2025-10-17

[3]

一种半导体芯片引脚切割装置 [P].

刁垒超 .

中国专利 :CN214720161U ,2021-11-16

[4]

一种用于半导体芯片的引脚检测装置 [P].

李正年 .

中国专利 :CN217484449U ,2022-09-23

[5]

一种半导体芯片引脚检测辅助装置 [P].

郭飞 ;

陈宗廷 ;

朱放中 .

中国专利 :CN217034045U ,2022-07-22

[6]

一种半导体引脚检测装置 [P].

王思懿 ;

王学东 .

中国专利 :CN220772073U ,2024-04-12

[7]

一种半导体芯片引脚检测工具 [P].

韩林森 ;

龚平 ;

王从亮 .

中国专利 :CN202903096U ,2013-04-24

[8]

一种半导体芯片检测装置 [P].

刘彬 .

中国专利 :CN212646761U ,2021-03-02

[9]

一种半导体芯片检测装置 [P].

陈增力 ;

颜玮 ;

王斌 ;

王广军 ;

李晓星 .

中国专利 :CN215728627U ,2022-02-01

[10]

一种半导体芯片检测装置 [P].

曹巍 .

中国专利 :CN217766712U ,2022-11-08

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