一种半导体芯片引脚检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421982647.4

申请日：

2024-08-15

公开(公告)号：

CN223449979U

公开(公告)日：

2025-10-17

发明(设计)人：

彭西密孙维亮

申请人：

广东腾昕检测技术有限公司

申请人地址：

523000 广东省东莞市桥头镇桥头桥龙路482号301室

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/02 G01R31/28 G01B21/02 G01B21/16

代理机构：

东莞创博知识产权代理事务所(普通合伙) 44803

代理人：

陈柏陶

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-17	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体芯片引脚检测装置 [P].

刘增红 ;

常浩 ;

薛良 .

中国专利 :CN208567742U ,2019-03-01

[2]

一种半导体芯片引脚检测装置 [P].

阮永红 .

中国专利 :CN214333713U ,2021-10-01

[3]

一种用于半导体芯片的引脚检测装置 [P].

李正年 .

中国专利 :CN217484449U ,2022-09-23

[4]

一种半导体芯片引脚检测工具 [P].

韩林森 ;

龚平 ;

王从亮 .

中国专利 :CN202903096U ,2013-04-24

[5]

一种半导体芯片引脚检测辅助装置 [P].

郭飞 ;

陈宗廷 ;

朱放中 .

中国专利 :CN217034045U ,2022-07-22

[6]

一种半导体引脚检测装置 [P].

王思懿 ;

王学东 .

中国专利 :CN220772073U ,2024-04-12

[7]

芯片引脚检测装置 [P].

孙政 .

中国专利 :CN216718252U ,2022-06-10

[8]

一种半导体芯片引脚切割装置 [P].

刁垒超 .

中国专利 :CN214720161U ,2021-11-16

[9]

一种半导体芯片检测装置 [P].

刘彬 .

中国专利 :CN212646761U ,2021-03-02

[10]

一种半导体芯片检测装置 [P].

陈增力 ;

颜玮 ;

王斌 ;

王广军 ;

李晓星 .

中国专利 :CN215728627U ,2022-02-01

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