半导体器件及其制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210290649.2
申请日
2012-08-15
公开(公告)号
CN103594368A
公开(公告)日
2014-02-19
发明(设计)人
鲍宇 平延磊
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H01L21336
IPC分类号
H01L2978 H01L29423
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
屈蘅;李时云
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件的制造方法及半导体器件 [P]. 
舛冈富士雄 ;
中村广记 .
中国专利 :CN103270585A ,2013-08-28
[2]
半导体器件的制造方法及半导体器件 [P]. 
舛冈富士雄 ;
中村广记 .
中国专利 :CN103314443A ,2013-09-18
[3]
半导体器件的制造方法及半导体器件 [P]. 
舛冈富士雄 ;
中村广记 .
中国专利 :CN103201842A ,2013-07-10
[4]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
早川幸夫 .
中国专利 :CN1495903A ,2004-05-12
[5]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120432381A ,2025-08-05
[6]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
胡永中 ;
戴嵩山 .
中国专利 :CN101083265B ,2007-12-05
[7]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
深濑匡 .
中国专利 :CN1088913C ,1997-04-16
[8]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
金华俊 ;
孙贵鹏 .
中国专利 :CN110911487A ,2020-03-24
[9]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
金载甲 .
中国专利 :CN1049070C ,1996-03-27
[10]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
外园明 .
中国专利 :CN1819267A ,2006-08-16