用于X射线荧光分析的标准化样品的制作方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310607518.7

申请日：

2013-11-27

公开(公告)号：

CN104677701A

公开(公告)日：

2015-06-03

发明(设计)人：

董凌鸣顾卿贇刘文华郁剑

申请人：

申请人地址：

201900 上海市宝山区湄浦路335号

IPC主分类号：

G01N128

IPC分类号：

G01N23223

代理机构：

上海天协和诚知识产权代理事务所 31216

代理人：

张恒康

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-06-03	公开	公开
2016-11-16	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101687366846 IPC(主分类):G01N 1/28 专利申请号:2013106075187 申请日:20131127
2019-02-22	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N 1/28 申请公布日:20150603

共 50 条

[1]

X射线荧光分析用标准样品制备及使用方法 [P].

张蕾 ;

陈宁娜 ;

许超 ;

魏春阳 ;

何艺 .

中国专利 :CN119395062A ,2025-02-07

[2]

用于X射线荧光分析的设备和方法 [P].

布鲁诺·弗雷博斯 ;

利文·肯彭纳斯 ;

肖又红 .

中国专利 :CN115343321A ,2022-11-15

[3]

X射线荧光分析装置用的试样夹持器、试样夹持器制作夹具和X射线荧光分析装置用的试样制作方法 [P].

松田涉 ;

井上稔 .

中国专利 :CN109642881A ,2019-04-16

[4]

一种铸造X射线荧光分析样品的模具 [P].

魏纯玉 ;

曹爱青 ;

徐增芹 ;

宋兰会 ;

张宪芹 ;

张成亮 ;

李萍 ;

唐海燕 ;

邵智慧 .

中国专利 :CN204064756U ,2014-12-31

[5]

自动化X射线荧光分析 [P].

迈克尔·E·杜加斯 ;

里·哥罗德金斯 ;

斯蒂芬·I·沙夫斯基 .

中国专利 :CN102066912B ,2011-05-18

[6]

X射线荧光分析的α系数测定方法 [P].

马振珠 ;

刘玉兵 ;

戴平 ;

诸葛顺金 ;

赵鹰立 ;

闫冉 ;

韩蔚 .

中国专利 :CN103969273B ,2016-05-18

[7]

一种用于X射线荧光分析样品的检测前存放装置 [P].

陈美华 ;

付利龙 ;

曹洁 ;

钟奕昕 ;

寻看雨 ;

姚慧敏 ;

颜巧丽 .

中国专利 :CN221883499U ,2024-10-22

[8]

用于实施X-射线荧光分析的方法和设备 [P].

J.凯斯勒 .

中国专利 :CN104956211B ,2015-09-30

[9]

X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法 [P].

马振珠 ;

刘玉兵 ;

戴平 ;

韩蔚 ;

王忠文 ;

赵鹰立 ;

张亚珍 ;

闫冉 .

中国专利 :CN103575756B ,2014-02-12

[10]

X射线荧光分析的检测装置以及检测方法 [P].

林玮翔 ;

陈铭书 .

中国专利 :CN101196482A ,2008-06-11

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