X射线荧光分析用标准样品制备及使用方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411498841.X

申请日：

2024-10-25

公开(公告)号：

CN119395062A

公开(公告)日：

2025-02-07

发明(设计)人：

张蕾陈宁娜许超魏春阳何艺

申请人：

中国一冶集团有限公司中冶武汉冶金建筑研究院有限公司中冶耐火材料检测中心

申请人地址：

430081 湖北省武汉市青山区工业大道3号

IPC主分类号：

G01N23/2202

IPC分类号：

G01N23/223 G01N1/36 G01N1/38 G01N1/28

代理机构：

湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102

代理人：

陶洪

法律状态：

公开

国省代码：

内蒙古自治区包头市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-07	公开	公开
2025-02-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/2202申请日:20241025

共 50 条

[1]

用于X射线荧光分析的标准化样品的制作方法 [P].

董凌鸣 ;

顾卿贇 ;

刘文华 ;

郁剑 .

中国专利 :CN104677701A ,2015-06-03

[2]

X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法 [P].

马振珠 ;

刘玉兵 ;

戴平 ;

韩蔚 ;

王忠文 ;

赵鹰立 ;

张亚珍 ;

闫冉 .

中国专利 :CN103575756B ,2014-02-12

[3]

在线X射线荧光分析模组及在线X射线荧光分析装置 [P].

张振伟 .

中国专利 :CN120404817A ,2025-08-01

[4]

X射线荧光分析的α系数测定方法 [P].

马振珠 ;

刘玉兵 ;

戴平 ;

诸葛顺金 ;

赵鹰立 ;

闫冉 ;

韩蔚 .

中国专利 :CN103969273B ,2016-05-18

[5]

荧光X射线分析装置 [P].

松田涉 ;

山本恭之 ;

片冈由行 .

日本专利 :CN117460950B ,2024-12-27

[6]

荧光X射线分析装置 [P].

松田涉 ;

山本恭之 ;

片冈由行 .

日本专利 :CN117460950A ,2024-01-26

[7]

X射线荧光分析设备 [P].

刘海文 .

中国专利 :CN205538758U ,2016-08-31

[8]

用于X射线荧光光谱分析的埋弧焊剂标准样品及制备方法 [P].

卜兆杰 ;

韩丽 ;

王晓旋 ;

苏斯燕 ;

陶泽秀 ;

郑永超 ;

蒋春宏 .

中国专利 :CN108195865A ,2018-06-22

[9]

X射线荧光元素分布分析用分析盒 [P].

马振珠 ;

刘玉兵 ;

韩蔚 ;

邓赛文 ;

卢娟娟 ;

戴平 .

中国专利 :CN207096138U ,2018-03-13

[10]

一种掠发射X射线荧光分析用样品制备装置 [P].

巩岩 ;

陈波 .

中国专利 :CN1357755A ,2002-07-10

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