用于X射线荧光光谱分析的埋弧焊剂标准样品及制备方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810271604.8

申请日：

2018-03-29

公开(公告)号：

CN108195865A

公开(公告)日：

2018-06-22

发明(设计)人：

卜兆杰韩丽王晓旋苏斯燕陶泽秀郑永超蒋春宏

申请人：

申请人地址：

730314 甘肃省兰州市兰州新区昆仑大道西段516号

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

G01N128

代理机构：

甘肃省知识产权事务中心 62100

代理人：

马小瑞

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20180329
2018-06-22	公开	公开

共 50 条

[1]

用于X射线荧光光谱分析的多个样品制备 [P].

J·M·L·N·加西亚 .

中国专利 :CN104903698A ,2015-09-09

[2]

一种用于X射线荧光光谱分析的ABS标准样品的制备方法 [P].

宋翠翠 ;

李云巧 ;

吴博 ;

庞承焕 ;

巢静波 ;

单长国 .

中国专利 :CN106769274B ,2019-06-21

[3]

用于X射线荧光光谱分析的铁合金校准样品的制备方法 [P].

王彬果 ;

李兰群 ;

赵靖 ;

徐静 ;

商英 ;

白淑霞 ;

张建中 ;

闫文喜 ;

李帆 ;

马永昌 .

中国专利 :CN102818722A ,2012-12-12

[4]

用于X射线荧光光谱分析的熔剂 [P].

袁家义 ;

白雪冰 ;

吕振生 .

中国专利 :CN1800811B ,2006-07-12

[5]

用于X射线荧光光谱分析的织物样片 [P].

窦怀智 ;

申晓萍 ;

侯晋 .

中国专利 :CN203191238U ,2013-09-11

[6]

一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法 [P].

刘晓丽 .

中国专利 :CN103245538A ,2013-08-14

[7]

用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架 [P].

包世星 ;

李瑞峰 ;

何英华 ;

邴淑秋 ;

刘卫东 ;

王磊 ;

赵铁凯 ;

徐冬梅 .

中国专利 :CN207181333U ,2018-04-03

[8]

一种X射线荧光光谱分析的样品盒 [P].

蒯丽君 ;

詹秀春 ;

樊兴涛 .

中国专利 :CN203011862U ,2013-06-19

[9]

X射线荧光光谱分析中用于萤石样品的制样熔剂 [P].

洪飞 ;

白雪冰 ;

袁家义 .

中国专利 :CN102507287A ,2012-06-20

[10]

X射线荧光光谱分析设备的标定方法及装置 [P].

黄宇翔 ;

张贝 ;

贡志锋 ;

陈治均 ;

郑翠芳 ;

陈金文 ;

李卓 ;

张雪娜 ;

洪峰 .

中国专利 :CN115684232A ,2023-02-03

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