一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310135254.X

申请日：

2013-04-17

公开(公告)号：

CN103245538A

公开(公告)日：

2013-08-14

发明(设计)人：

刘晓丽

申请人：

申请人地址：

510000 广东省广州市天河区东莞庄路110号

IPC主分类号：

G01N128

IPC分类号：

G01N23223

代理机构：

北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015

代理人：

齐永红

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-10-07	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101721753344 IPC(主分类):G01N 1/28 专利申请号:201310135254X 申请公布日:20130814
2013-09-11	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101517522020 IPC(主分类):G01N 1/28 专利申请号:201310135254X 申请日:20130417
2013-08-14	公开	公开

共 50 条

[1]

一种用于X射线荧光光谱分析的ABS标准样品的制备方法 [P].

宋翠翠 ;

李云巧 ;

吴博 ;

庞承焕 ;

巢静波 ;

单长国 .

中国专利 :CN106769274B ,2019-06-21

[2]

用于X射线荧光光谱分析的埋弧焊剂标准样品及制备方法 [P].

卜兆杰 ;

韩丽 ;

王晓旋 ;

苏斯燕 ;

陶泽秀 ;

郑永超 ;

蒋春宏 .

中国专利 :CN108195865A ,2018-06-22

[3]

用于X射线荧光光谱分析的多个样品制备 [P].

J·M·L·N·加西亚 .

中国专利 :CN104903698A ,2015-09-09

[4]

连铸保护渣X射线荧光光谱分析方法 [P].

边立槐 ;

殷宏 ;

杨觎 ;

孙颖 .

中国专利 :CN101498675A ,2009-08-05

[5]

一种粉末样品用X-荧光光谱分析样品盒 [P].

曹钧 .

中国专利 :CN208140614U ,2018-11-23

[6]

一种X射线荧光光谱分析的样品盒 [P].

蒯丽君 ;

詹秀春 ;

樊兴涛 .

中国专利 :CN203011862U ,2013-06-19

[7]

X-荧光光谱分析用双面样品盒 [P].

洪飞 ;

袁家义 ;

刘晶 .

中国专利 :CN203758937U ,2014-08-06

[8]

用于X射线荧光光谱分析的铁合金校准样品的制备方法 [P].

王彬果 ;

李兰群 ;

赵靖 ;

徐静 ;

商英 ;

白淑霞 ;

张建中 ;

闫文喜 ;

李帆 ;

马永昌 .

中国专利 :CN102818722A ,2012-12-12

[9]

一种X-荧光光谱分析用样品盒 [P].

洪飞 ;

白雪冰 ;

袁家义 .

中国专利 :CN203337577U ,2013-12-11

[10]

一种X荧光光谱分析自动标定装置 [P].

应刚 ;

栾旭东 ;

张苏伟 ;

方军 ;

吴升海 .

中国专利 :CN204389412U ,2015-06-10

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