一种用于X射线荧光光谱分析的ABS标准样品的制备方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610984811.9

申请日：

2016-11-09

公开(公告)号：

CN106769274B

公开(公告)日：

2019-06-21

发明(设计)人：

宋翠翠李云巧吴博庞承焕巢静波单长国

申请人：

申请人地址：

510663 广东省广州市科学城科丰路33号

IPC主分类号：

G01N128

IPC分类号：

G01N138 G01N144 G01N23223

代理机构：

广州粤高专利商标代理有限公司 44102

代理人：

陈卫

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-06-23	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101729311001 IPC(主分类):G01N 1/28 专利申请号:2016109848119 申请日:20161109
2019-06-21	授权	授权

共 50 条

[1]

用于X射线荧光光谱分析的多个样品制备 [P].

J·M·L·N·加西亚 .

中国专利 :CN104903698A ,2015-09-09

[2]

用于X射线荧光光谱分析的埋弧焊剂标准样品及制备方法 [P].

卜兆杰 ;

韩丽 ;

王晓旋 ;

苏斯燕 ;

陶泽秀 ;

郑永超 ;

蒋春宏 .

中国专利 :CN108195865A ,2018-06-22

[3]

用于X射线荧光光谱分析的铁合金校准样品的制备方法 [P].

王彬果 ;

李兰群 ;

赵靖 ;

徐静 ;

商英 ;

白淑霞 ;

张建中 ;

闫文喜 ;

李帆 ;

马永昌 .

中国专利 :CN102818722A ,2012-12-12

[4]

用于X射线荧光光谱分析的熔剂 [P].

袁家义 ;

白雪冰 ;

吕振生 .

中国专利 :CN1800811B ,2006-07-12

[5]

一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法 [P].

刘晓丽 .

中国专利 :CN103245538A ,2013-08-14

[6]

一种X射线荧光光谱分析的样品盒 [P].

蒯丽君 ;

詹秀春 ;

樊兴涛 .

中国专利 :CN203011862U ,2013-06-19

[7]

用于X射线荧光光谱分析的织物样片 [P].

窦怀智 ;

申晓萍 ;

侯晋 .

中国专利 :CN203191238U ,2013-09-11

[8]

用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架 [P].

包世星 ;

李瑞峰 ;

何英华 ;

邴淑秋 ;

刘卫东 ;

王磊 ;

赵铁凯 ;

徐冬梅 .

中国专利 :CN207181333U ,2018-04-03

[9]

一种X射线荧光光谱分析薄试样的样品环 [P].

翟磊 ;

樊兴涛 ;

詹秀春 ;

焦距 .

中国专利 :CN205263004U ,2016-05-25

[10]

一种X射线荧光光谱分析装置 [P].

梁志宏 .

中国专利 :CN201773074U ,2011-03-23

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