测试方法、测试设备和测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110181279.8

申请日：

2021-02-08

公开(公告)号：

CN113009248A

公开(公告)日：

2021-06-22

发明(设计)人：

李一路杨荣康郭启云李峰辉李兴国王鹏程温凯刘永成黄满义付乃峰张小飞

申请人：

申请人地址：

300000 天津市滨海新区天津自贸试验区（空港经济区）环河北路80号空港商务园东区8号楼A708室

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

孟金喆

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-22	公开	公开
2021-07-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20210208

共 50 条

[1]

测试指令的管理方法、测试设备和测试系统 [P].

李一路 ;

郭启云 ;

杨荣康 ;

李峰辉 ;

李兴国 ;

王鹏程 ;

温凯 ;

刘永成 ;

黄满义 ;

付乃峰 ;

张小飞 .

中国专利 :CN112799104A ,2021-05-14

[2]

测试设备和测试系统 [P].

李一路 ;

李昌兴 ;

杨荣康 ;

李峰辉 ;

李兴国 ;

王鹏程 ;

温凯 ;

刘永成 ;

黄满义 ;

付乃峰 ;

张小飞 .

中国专利 :CN214703812U ,2021-11-12

[3]

测试设备和测试系统 [P].

陈永军 ;

杜长磊 ;

韦桂锋 .

中国专利 :CN112415296B ,2024-06-04

[4]

测试设备和测试系统 [P].

陈永军 ;

杜长磊 ;

韦桂锋 .

中国专利 :CN112415296A ,2021-02-26

[5]

芯片测试控制方法、芯片测试系统和设备 [P].

吴承泽 ;

李钦源 ;

张亚鑫 ;

杨文军 .

中国专利 :CN119335358A ,2025-01-21

[6]

芯片测试方法、测试设备和测试系统 [P].

陈默 ;

郭海丰 ;

段恋华 .

中国专利 :CN111736059B ,2020-10-02

[7]

测试设备、测试方法和飞行测试系统 [P].

赵阳 ;

方敏 ;

陈凯 .

中国专利 :CN113365919A ,2021-09-07

[8]

内存测试方法、装置、测试设备和系统 [P].

马聪 ;

马全红 ;

张睿夫 ;

张代均 ;

李步蟾 .

中国专利 :CN118535402A ,2024-08-23

[9]

测试设备和测试系统 [P].

张建龙 ;

何虎象 ;

余骏东 ;

陈超 ;

马化沭 ;

罗荣优 .

中国专利 :CN220543344U ,2024-02-27

[10]

测试设备和测试系统 [P].

朱顺 .

中国专利 :CN217981693U ,2022-12-06

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