一种用于测试探针加工的研磨装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202121339458.1
申请日
2021-06-16
公开(公告)号
CN215036244U
公开(公告)日
2021-12-07
发明(设计)人
刘志广 颜烈刚 蒋文德 黎华盛 孙锐锋
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华新区龙华街道清祥路宝能科技园6栋B座3楼KLM单位
IPC主分类号
B24B1916
IPC分类号
代理机构
深圳市中科创为专利代理有限公司 44384
代理人
彭西洋;何路
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种用于测试探针加工的研磨装置 [P]. 
赵成兵 .
中国专利 :CN118386128A ,2024-07-26
[2]
一种测试探针加工用切割装置 [P]. 
金玄 .
中国专利 :CN215966695U ,2022-03-08
[3]
一种用于测试探针加工的电解蚀刻装置 [P]. 
赵成兵 .
中国专利 :CN218404488U ,2023-01-31
[4]
一种用于测试探针加工的电解蚀刻装置 [P]. 
刘志广 ;
颜烈刚 ;
蒋文德 ;
黎华盛 ;
孙锐锋 .
中国专利 :CN215050840U ,2021-12-07
[5]
一种测试探针装置及具有测试探针装置的测试系统 [P]. 
聂远 ;
马金刚 ;
张明 ;
高云峰 .
中国专利 :CN208421014U ,2019-01-22
[6]
一种芯片测试探针卡用研磨装置 [P]. 
张磊 ;
王锡湖 .
中国专利 :CN214445369U ,2021-10-22
[7]
一种测试探针装置 [P]. 
秦泽贵 .
中国专利 :CN210894446U ,2020-06-30
[8]
一种测试探针加工用切割装置 [P]. 
钟兴彬 ;
巫燕香 .
中国专利 :CN222492402U ,2025-02-18
[9]
一种测试探针和用于测试探针的制造方法 [P]. 
方经军 .
中国专利 :CN120334582A ,2025-07-18
[10]
一种测试探针弯针装置 [P]. 
刘志广 ;
颜烈刚 ;
孙锐锋 .
中国专利 :CN215033172U ,2021-12-07