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一种用于测试探针加工的研磨装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202121339458.1
申请日
:
2021-06-16
公开(公告)号
:
CN215036244U
公开(公告)日
:
2021-12-07
发明(设计)人
:
刘志广
颜烈刚
蒋文德
黎华盛
孙锐锋
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市龙华新区龙华街道清祥路宝能科技园6栋B座3楼KLM单位
IPC主分类号
:
B24B1916
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市中科创为专利代理有限公司 44384
代理人
:
彭西洋;何路
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-07
授权
授权
共 50 条
[1]
一种用于测试探针加工的研磨装置
[P].
赵成兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州格巨电子科技有限公司
苏州格巨电子科技有限公司
赵成兵
.
中国专利
:CN118386128A
,2024-07-26
[2]
一种测试探针加工用切割装置
[P].
金玄
论文数:
0
引用数:
0
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0
金玄
.
中国专利
:CN215966695U
,2022-03-08
[3]
一种用于测试探针加工的电解蚀刻装置
[P].
赵成兵
论文数:
0
引用数:
0
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0
赵成兵
.
中国专利
:CN218404488U
,2023-01-31
[4]
一种用于测试探针加工的电解蚀刻装置
[P].
刘志广
论文数:
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刘志广
;
颜烈刚
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颜烈刚
;
蒋文德
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蒋文德
;
黎华盛
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黎华盛
;
孙锐锋
论文数:
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孙锐锋
.
中国专利
:CN215050840U
,2021-12-07
[5]
一种测试探针装置及具有测试探针装置的测试系统
[P].
聂远
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聂远
;
马金刚
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马金刚
;
张明
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张明
;
高云峰
论文数:
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高云峰
.
中国专利
:CN208421014U
,2019-01-22
[6]
一种芯片测试探针卡用研磨装置
[P].
张磊
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张磊
;
王锡湖
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王锡湖
.
中国专利
:CN214445369U
,2021-10-22
[7]
一种测试探针装置
[P].
秦泽贵
论文数:
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秦泽贵
.
中国专利
:CN210894446U
,2020-06-30
[8]
一种测试探针加工用切割装置
[P].
钟兴彬
论文数:
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0
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机构:
深圳市新富城电子有限公司
深圳市新富城电子有限公司
钟兴彬
;
巫燕香
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
深圳市新富城电子有限公司
深圳市新富城电子有限公司
巫燕香
.
中国专利
:CN222492402U
,2025-02-18
[9]
一种测试探针和用于测试探针的制造方法
[P].
方经军
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
苏州斯丹德电子科技有限公司
苏州斯丹德电子科技有限公司
方经军
.
中国专利
:CN120334582A
,2025-07-18
[10]
一种测试探针弯针装置
[P].
刘志广
论文数:
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刘志广
;
颜烈刚
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颜烈刚
;
孙锐锋
论文数:
0
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孙锐锋
.
中国专利
:CN215033172U
,2021-12-07
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