一种用于测试探针加工的研磨装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410581402.9

申请日：

2024-05-11

公开(公告)号：

CN118386128A

公开(公告)日：

2024-07-26

发明(设计)人：

赵成兵

申请人：

苏州格巨电子科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中区木渎镇尧峰西路70号5号厂房1、2、3层

IPC主分类号：

B24B37/00

IPC分类号：

B24B37/27 B24B37/34 B24B47/00 B24B47/22

代理机构：

深圳市宾亚知识产权代理有限公司 44459

代理人：

吕林

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):B24B 37/00申请日:20240511
2024-07-26	公开	公开
2025-12-30	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):B24B 37/00申请公布日:20240726

共 50 条

[1]

一种用于测试探针加工的研磨装置 [P].

刘志广 ;

颜烈刚 ;

蒋文德 ;

黎华盛 ;

孙锐锋 .

中国专利 :CN215036244U ,2021-12-07

[2]

一种测试探针装置 [P].

覃早才 .

中国专利 :CN101487851B ,2009-07-22

[3]

一种测试探针装置 [P].

覃早才 .

中国专利 :CN201335849Y ,2009-10-28

[4]

一种测试探针和用于测试探针的制造方法 [P].

方经军 .

中国专利 :CN120334582A ,2025-07-18

[5]

测试探针和用于测试探针的制造方法 [P].

刘文霖 ;

林其达 .

中国专利 :CN118624964B ,2025-01-10

[6]

测试探针和用于测试探针的制造方法 [P].

刘文霖 ;

林其达 .

中国专利 :CN118624964A ,2024-09-10

[7]

一种用于测试探针加工的电解蚀刻装置 [P].

赵成兵 .

中国专利 :CN218404488U ,2023-01-31

[8]

一种用于测试探针加工的电解蚀刻装置 [P].

刘志广 ;

颜烈刚 ;

蒋文德 ;

黎华盛 ;

孙锐锋 .

中国专利 :CN215050840U ,2021-12-07

[9]

一种测试探针装置及具有测试探针装置的测试系统 [P].

聂远 ;

马金刚 ;

张明 ;

高云峰 .

中国专利 :CN208421014U ,2019-01-22

[10]

测试探针清洁装置 [P].

马佳奇 ;

许科 ;

张磊 ;

纪金鸿 ;

王换换 .

中国专利 :CN222428724U ,2025-02-07

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