X射线检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN90101310.2

申请日：

1990-03-13

公开(公告)号：

CN1045520A

公开(公告)日：

1990-09-26

发明(设计)人：

范德恩迪

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

A61B603

IPC分类号：

代理机构：

中国专利代理有限公司

代理人：

高桦

法律状态：

公开

国省代码：

引用

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
1990-09-26	公开	公开
1993-01-13	专利申请的视为撤回	专利申请的视为撤回

共 50 条

[1]

包括X射线滤光器的X射线检查装置 [P].

M·W·J·普林斯 ;

J·B·吉斯伯斯 ;

J·W·维卡姆普 ;

T·J·A·M·杨斯 ;

W·J·J·韦特尔斯 ;

N·P·维拉德 .

中国专利 :CN1300436A ,2001-06-20

[2]

X射线检查装置及使用X射线检查装置的X射线检查方法 [P].

益田真之 ;

松波刚 ;

小泉治幸 .

中国专利 :CN101266218A ,2008-09-17

[3]

X射线检查装置以及X射线检查方法 [P].

七吕真 ;

惠木守 .

中国专利 :CN115078417A ,2022-09-20

[4]

X射线检查方法以及X射线检查装置 [P].

益田真之 ;

松波刚 ;

小泉治幸 .

中国专利 :CN101266217A ,2008-09-17

[5]

便携式X射线检查装置 [P].

周爱琳 .

中国专利 :CN208937720U ,2019-06-04

[6]

X射线检查装置以及X射线检查方法 [P].

七吕真 ;

惠木守 .

中国专利 :CN114026411B ,2022-02-08

[7]

X射线检查装置及X射线检查方法 [P].

杉田信治 ;

梅本勇治 ;

大西贵子 .

中国专利 :CN107490586A ,2017-12-19

[8]

X射线检查装置以及X射线检查方法 [P].

七吕真 ;

惠木守 .

日本专利 :CN115078417B ,2025-06-03

[9]

X射线检查装置以及X射线检查方法 [P].

七吕真 ;

曾我部智之 ;

小原晃 .

日本专利 :CN120787310A ,2025-10-14

[10]

X射线检查装置以及X射线检查方法 [P].

巽正树 ;

八木勇夫 ;

高桥春男 .

中国专利 :CN111650223A ,2020-09-11

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