半导体器件铜电极的图形化方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200610150978.1
申请日
2006-11-01
公开(公告)号
CN1945799A
公开(公告)日
2007-04-11
发明(设计)人
王颖 曹菲 赵春晖
申请人
申请人地址
150001黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号1号楼
IPC主分类号
H01L2128
IPC分类号
H01L213213 H01L21768
代理机构
哈尔滨市哈科专利事务所有限责任公司
代理人
祖玉清
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体图形化方法 [P]. 
尚飞 ;
何其暘 .
中国专利 :CN104425211B ,2015-03-18
[2]
图形化方法及其形成的半导体器件 [P]. 
施维 ;
胡友存 ;
汤霞梅 .
中国专利 :CN111668155A ,2020-09-15
[3]
图形化方法及其形成的半导体器件 [P]. 
金吉松 ;
蒋斌杰 ;
杨伟娜 ;
庞军玲 .
中国专利 :CN111952154A ,2020-11-17
[4]
图形化方法及其形成的半导体器件 [P]. 
施维 ;
胡友存 ;
汤霞梅 ;
熊鹏 .
中国专利 :CN111668156A ,2020-09-15
[5]
图形化方法及其形成的半导体器件 [P]. 
金吉松 ;
蒋斌杰 ;
杨伟娜 ;
庞军玲 .
中国专利 :CN111952154B ,2025-04-22
[6]
图形化方法及其形成的半导体器件 [P]. 
施维 ;
胡友存 ;
汤霞梅 .
中国专利 :CN111668099A ,2020-09-15
[7]
图形化方法及其形成的半导体器件 [P]. 
施维 ;
胡友存 ;
汤霞梅 ;
熊鹏 .
中国专利 :CN112053947A ,2020-12-08
[8]
自对准图形化方法及半导体器件 [P]. 
陈圣 ;
田伟 ;
张超 .
中国专利 :CN114496742A ,2022-05-13
[9]
膜层的图形化方法及半导体器件的制备方法 [P]. 
李翔 ;
谢志平 ;
丛茂杰 .
中国专利 :CN114334642A ,2022-04-12
[10]
图形化基底的制备方法、图形化基底及半导体器件 [P]. 
林源为 .
中国专利 :CN119317251A ,2025-01-14