用于校准光学测量仪器的装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510033333.9

申请日：

2015-01-22

公开(公告)号：

CN104807400B

公开(公告)日：

2015-07-29

发明(设计)人：

塞韦林·温默

申请人：

申请人地址：

德国盖雷茨里德

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01N2188 G01N2147

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

归莹;张颖玲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-02-05	授权	授权
2015-07-29	公开	公开
2017-01-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101695869563 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2015100333339 申请日:20150122

共 50 条

[1]

光学测量仪器 [P].

Ｍ·Ｊ·唐斯 .

中国专利 :CN1041769C ,1993-08-11

[2]

光学测量仪器 [P].

海因里希·亨斯勒 ;

马丁·斯库塞斯 .

中国专利 :CN303101127S ,2015-02-11

[3]

光学测量仪器 [P].

路德维格·卡琴斯基 .

中国专利 :CN305644271S ,2020-03-17

[4]

光学测量仪器 [P].

罗曼·格鲁勒 ;

康拉德·福尔斯蒂克 .

中国专利 :CN101688840A ,2010-03-31

[5]

光学测量仪器 [P].

马库斯·齐格勒 .

中国专利 :CN3157535D ,2000-08-23

[6]

用于光学测量仪器的变焦装置 [P].

张和君 ;

刘怡 ;

陈源 ;

李枢 ;

廖学文 ;

张海叶 ;

章智伟 ;

冯福荣 ;

肖少杰 ;

刘阳 .

中国专利 :CN120722530A ,2025-09-30

[7]

用于光学测量仪器的变焦装置 [P].

张和君 ;

刘怡 ;

陈源 ;

李枢 ;

廖学文 ;

张海叶 ;

章智伟 ;

冯福荣 ;

肖少杰 ;

刘阳 .

中国专利 :CN120722530B ,2025-11-18

[8]

用于光学测量仪器的温度控制方法和设备及光学测量仪器 [P].

王英 ;

毕昕 ;

周善淮 .

中国专利 :CN103364077A ,2013-10-23

[9]

用于光学测量仪器的主体模块 [P].

J·莱特内 .

中国专利 :CN102308219A ,2012-01-04

[10]

一种用于对光学测量仪器进行校准的装置 [P].

胡焕琼 ;

吴强 ;

谢海东 .

中国专利 :CN221425599U ,2024-07-26

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