用于光学测量仪器的变焦装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511185640.9

申请日：

2025-08-22

公开(公告)号：

CN120722530B

公开(公告)日：

2025-11-18

发明(设计)人：

张和君刘怡陈源李枢廖学文张海叶章智伟冯福荣肖少杰刘阳

申请人：

深圳市中图仪器股份有限公司

申请人地址：

518055 广东省深圳市南山区西丽街道学苑大道1001号南山智园B1栋2楼

IPC主分类号：

G02B7/04

IPC分类号：

G02B7/10 G03B13/34 G01D5/26 G01S7/481

代理机构：

深圳舍穆专利代理事务所(特殊普通合伙) 44398

代理人：

崔智

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	公开	公开
2025-11-18	授权	授权
2025-10-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G02B 7/04申请日:20250822

共 50 条

[1]

用于光学测量仪器的变焦装置 [P].

张和君 ;

刘怡 ;

陈源 ;

李枢 ;

廖学文 ;

张海叶 ;

章智伟 ;

冯福荣 ;

肖少杰 ;

刘阳 .

中国专利 :CN120722530A ,2025-09-30

[2]

光学测量仪器 [P].

Ｍ·Ｊ·唐斯 .

中国专利 :CN1041769C ,1993-08-11

[3]

光学测量仪器 [P].

海因里希·亨斯勒 ;

马丁·斯库塞斯 .

中国专利 :CN303101127S ,2015-02-11

[4]

光学测量仪器 [P].

路德维格·卡琴斯基 .

中国专利 :CN305644271S ,2020-03-17

[5]

光学测量仪器 [P].

罗曼·格鲁勒 ;

康拉德·福尔斯蒂克 .

中国专利 :CN101688840A ,2010-03-31

[6]

光学测量仪器 [P].

马库斯·齐格勒 .

中国专利 :CN3157535D ,2000-08-23

[7]

用于校准光学测量仪器的装置 [P].

塞韦林·温默 .

中国专利 :CN104807400B ,2015-07-29

[8]

用于光学测量仪器的温度控制方法和设备及光学测量仪器 [P].

王英 ;

毕昕 ;

周善淮 .

中国专利 :CN103364077A ,2013-10-23

[9]

用于光学测量仪器的主体模块 [P].

J·莱特内 .

中国专利 :CN102308219A ,2012-01-04

[10]

光学元件厚度的光学测量仪器 [P].

徐昌杰 .

中国专利 :CN87200715U ,1987-12-02

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