光学元件厚度的光学测量仪器

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN87200715.4

申请日：

1987-01-20

公开(公告)号：

CN87200715U

公开(公告)日：

1987-12-02

发明(设计)人：

徐昌杰

申请人：

申请人地址：

浙江省杭州市玉泉

IPC主分类号：

G01B1102

IPC分类号：

G01B902

代理机构：

浙江大学专利代理事务所

代理人：

林怀禹

法律状态：

授权

国省代码：

引用

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
1988-06-08	授权	授权
1991-06-12	专利权的终止未缴纳年费专利权终止	专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1987-12-02	公开	公开

共 50 条

[1]

光学测量仪器 [P].

Ｍ·Ｊ·唐斯 .

中国专利 :CN1041769C ,1993-08-11

[2]

光学测量仪器 [P].

海因里希·亨斯勒 ;

马丁·斯库塞斯 .

中国专利 :CN303101127S ,2015-02-11

[3]

光学测量仪器 [P].

路德维格·卡琴斯基 .

中国专利 :CN305644271S ,2020-03-17

[4]

光学测量仪器 [P].

罗曼·格鲁勒 ;

康拉德·福尔斯蒂克 .

中国专利 :CN101688840A ,2010-03-31

[5]

光学测量仪器 [P].

马库斯·齐格勒 .

中国专利 :CN3157535D ,2000-08-23

[6]

用于光学测量仪器的温度控制方法和设备及光学测量仪器 [P].

王英 ;

毕昕 ;

周善淮 .

中国专利 :CN103364077A ,2013-10-23

[7]

一种光学测量仪器 [P].

郑瑞生 .

中国专利 :CN215598325U ,2022-01-21

[8]

一种光学测量仪器 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN212459386U ,2021-02-02

[9]

用于校准光学测量仪器的装置 [P].

塞韦林·温默 .

中国专利 :CN104807400B ,2015-07-29

[10]

用于光学测量仪器的变焦装置 [P].

张和君 ;

刘怡 ;

陈源 ;

李枢 ;

廖学文 ;

张海叶 ;

章智伟 ;

冯福荣 ;

肖少杰 ;

刘阳 .

中国专利 :CN120722530A ,2025-09-30

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