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一种光学测量仪器
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202020222167.3
申请日
:
2020-02-28
公开(公告)号
:
CN212459386U
公开(公告)日
:
2021-02-02
发明(设计)人
:
潘建根
申请人
:
申请人地址
:
310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号
IPC主分类号
:
G01N2127
IPC分类号
:
G01M1102
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-02-02
授权
授权
共 50 条
[1]
一种光学测量仪器
[P].
郑瑞生
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0
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0
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郑瑞生
.
中国专利
:CN215598325U
,2022-01-21
[2]
光学测量仪器
[P].
M·J·唐斯
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0
M·J·唐斯
.
中国专利
:CN1041769C
,1993-08-11
[3]
光学测量仪器
[P].
海因里希·亨斯勒
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海因里希·亨斯勒
;
马丁·斯库塞斯
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马丁·斯库塞斯
.
中国专利
:CN303101127S
,2015-02-11
[4]
光学测量仪器
[P].
路德维格·卡琴斯基
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路德维格·卡琴斯基
.
中国专利
:CN305644271S
,2020-03-17
[5]
光学测量仪器
[P].
罗曼·格鲁勒
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罗曼·格鲁勒
;
康拉德·福尔斯蒂克
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康拉德·福尔斯蒂克
.
中国专利
:CN101688840A
,2010-03-31
[6]
光学测量仪器
[P].
马库斯·齐格勒
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马库斯·齐格勒
.
中国专利
:CN3157535D
,2000-08-23
[7]
一种动态光学测量仪器
[P].
李伟
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安徽拓扑仪器设备有限公司
安徽拓扑仪器设备有限公司
李伟
;
董昌明
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机构:
安徽拓扑仪器设备有限公司
安徽拓扑仪器设备有限公司
董昌明
;
张珺楠
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机构:
安徽拓扑仪器设备有限公司
安徽拓扑仪器设备有限公司
张珺楠
;
许超
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安徽拓扑仪器设备有限公司
安徽拓扑仪器设备有限公司
许超
;
梁玉稳
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机构:
安徽拓扑仪器设备有限公司
安徽拓扑仪器设备有限公司
梁玉稳
.
中国专利
:CN220418371U
,2024-01-30
[8]
一种光学干涉测量仪器
[P].
赵加训
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赵加训
.
中国专利
:CN2048973U
,1989-12-06
[9]
一种动态光学测量仪器
[P].
吴镝
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吴镝
;
许文明
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许文明
;
刘智宁
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刘智宁
;
幽亚蕾
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幽亚蕾
;
向二飞
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向二飞
;
谭军
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谭军
;
张鑫鑫
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张鑫鑫
.
中国专利
:CN218443743U
,2023-02-03
[10]
一种自动化光学测量仪器
[P].
丁留建
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丁留建
.
中国专利
:CN209559737U
,2019-10-29
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