光学测量仪器

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200880013366.5

申请日：

2008-02-25

公开(公告)号：

CN101688840A

公开(公告)日：

2010-03-31

发明(设计)人：

罗曼·格鲁勒康拉德·福尔斯蒂克

申请人：

申请人地址：

德国斯托卡克

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

王冉

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-05-23	著录事项变更	著录事项变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101355128174 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2008800133665 变更事项:申请人变更前:ESE嵌入式系统工程有限责任公司变更后:凯杰康士坦茨湖有限责任公司变更事项:地址变更前:德国斯托卡克变更后:德国斯托卡克
2010-03-31	公开	公开
2010-04-28	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101001258023 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2008800133665 申请日:20080225
2014-06-25	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101702234084 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2008800133665 申请公布日:20100331

共 50 条

[1]

光学测量仪器 [P].

Ｍ·Ｊ·唐斯 .

中国专利 :CN1041769C ,1993-08-11

[2]

光学测量仪器 [P].

海因里希·亨斯勒 ;

马丁·斯库塞斯 .

中国专利 :CN303101127S ,2015-02-11

[3]

光学测量仪器 [P].

路德维格·卡琴斯基 .

中国专利 :CN305644271S ,2020-03-17

[4]

光学测量仪器 [P].

马库斯·齐格勒 .

中国专利 :CN3157535D ,2000-08-23

[5]

一种光学测量仪器 [P].

郑瑞生 .

中国专利 :CN215598325U ,2022-01-21

[6]

测量仪器 [P].

胡志刚 ;

赵川 ;

周丽先 .

中国专利 :CN302503661S ,2013-07-17

[7]

光学元件厚度的光学测量仪器 [P].

徐昌杰 .

中国专利 :CN87200715U ,1987-12-02

[8]

用于光学测量仪器的温度控制方法和设备及光学测量仪器 [P].

王英 ;

毕昕 ;

周善淮 .

中国专利 :CN103364077A ,2013-10-23

[9]

一种光学测量仪器 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN212459386U ,2021-02-02

[10]

粘度测量仪器 [P].

沃尔夫冈·德拉姆 ;

阿尔弗雷德·里德 .

中国专利 :CN100491966C ,2004-11-17

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