一种动态光学测量仪器

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202321919176.8

申请日：

2023-07-20

公开(公告)号：

CN220418371U

公开(公告)日：

2024-01-30

发明(设计)人：

李伟董昌明张珺楠许超梁玉稳

申请人：

安徽拓扑仪器设备有限公司

申请人地址：

230000 安徽省合肥市新站区涂山路以西天水路以北安徽远鸿机械自动化有限公司综合楼401

IPC主分类号：

G01B11/02

IPC分类号：

F16M11/04 F16M11/18

代理机构：

南京国润知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32696

代理人：

徐博

法律状态：

授权

国省代码：

黑龙江省黑河市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-30	授权	授权

共 50 条

[1]

一种动态光学测量仪器 [P].

吴镝 ;

许文明 ;

刘智宁 ;

幽亚蕾 ;

向二飞 ;

谭军 ;

张鑫鑫 .

中国专利 :CN218443743U ,2023-02-03

[2]

一种光学测量仪器 [P].

郑瑞生 .

中国专利 :CN215598325U ,2022-01-21

[3]

一种光学测量仪器 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN212459386U ,2021-02-02

[4]

光学测量仪器 [P].

Ｍ·Ｊ·唐斯 .

中国专利 :CN1041769C ,1993-08-11

[5]

光学测量仪器 [P].

海因里希·亨斯勒 ;

马丁·斯库塞斯 .

中国专利 :CN303101127S ,2015-02-11

[6]

光学测量仪器 [P].

路德维格·卡琴斯基 .

中国专利 :CN305644271S ,2020-03-17

[7]

光学测量仪器 [P].

罗曼·格鲁勒 ;

康拉德·福尔斯蒂克 .

中国专利 :CN101688840A ,2010-03-31

[8]

光学测量仪器 [P].

马库斯·齐格勒 .

中国专利 :CN3157535D ,2000-08-23

[9]

一种光学干涉测量仪器 [P].

赵加训 .

中国专利 :CN2048973U ,1989-12-06

[10]

一种动态光学测量仪 [P].

吴镝 ;

许文明 ;

刘智宁 ;

幽亚蕾 ;

向二飞 ;

谭军 ;

张鑫鑫 .

中国专利 :CN115493497A ,2022-12-20

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