光学器件的检测装置及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610007307.X

申请日：

2006-02-07

公开(公告)号：

CN1904674A

公开(公告)日：

2007-01-31

发明(设计)人：

普特波夫·维拉帝莫赵成训李锡原李文九金洸秀

申请人：

申请人地址：

韩国京畿道

IPC主分类号：

G02F113

IPC分类号：

G01N2123 G01N2100

代理机构：

北京铭硕知识产权代理有限公司

代理人：

郭鸿禧;李云霞

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-12-17	授权	授权
2007-01-31	公开	公开
2007-03-28	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

光学器件及检测装置 [P].

山田明子 ;

山田耕平 .

中国专利 :CN104246480A ,2014-12-24

[2]

半导体器件光学检测装置及检测方法 [P].

梁金刚 ;

陈亮 ;

许俊 .

中国专利 :CN101294864A ,2008-10-29

[3]

检测光学器件光谱特性的方法及装置 [P].

陈达如 .

中国专利 :CN101776518B ,2010-07-14

[4]

光学器件的功率检测装置、方法及设备 [P].

朱笠 ;

况火根 ;

文冲 .

中国专利 :CN110928351A ,2020-03-27

[5]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

杨善 ;

龚士勋 ;

黄彦桦 .

中国专利 :CN119845149A ,2025-04-18

[6]

光学检测方法及光学检测装置 [P].

安浦雅人 ;

藤卷真 ;

芦叶裕树 ;

岛隆之 .

中国专利 :CN109154561B ,2019-01-04

[7]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

王珂 .

中国专利 :CN109916597A ,2019-06-21

[8]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

张凌宇 .

中国专利 :CN109901314A ,2019-06-18

[9]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

周上杰 ;

江雅雯 .

中国专利 :CN101487934B ,2009-07-22

[10]

光学器件、检测装置、电子设备及光学器件的制造方法 [P].

山田明子 ;

山田耕平 .

中国专利 :CN103868905A ,2014-06-18

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