光学器件及检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201380021341.0

申请日：

2013-04-23

公开(公告)号：

CN104246480A

公开(公告)日：

2014-12-24

发明(设计)人：

山田明子山田耕平

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01N2165

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

余刚;吴孟秋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-12-24	公开	公开
2016-12-21	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101743797622 IPC(主分类):G01N 21/65 专利申请号:2013800213410 申请公布日:20141224
2015-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101595663943 IPC(主分类):G01N 21/65 申请日:20130423 专利申请号:2013800213410

共 50 条

[1]

光学器件、检测装置及电子设备 [P].

山田耕平 .

中国专利 :CN104076021A ,2014-10-01

[2]

光学器件、检测装置、电子设备及光学器件的制造方法 [P].

山田明子 ;

山田耕平 .

中国专利 :CN103868905A ,2014-06-18

[3]

光学装置以及检测装置 [P].

坂上裕介 ;

山田耕平 ;

山田明子 .

中国专利 :CN104272090A ,2015-01-07

[4]

光学装置及检测装置 [P].

尼子淳 ;

西田秀明 ;

真野哲雄 .

中国专利 :CN104508463A ,2015-04-08

[5]

光学器件的检测装置及检测方法 [P].

普特波夫·维拉帝莫 ;

赵成训 ;

李锡原 ;

李文九 ;

金洸秀 .

中国专利 :CN1904674A ,2007-01-31

[6]

光学器件的功率检测装置、方法及设备 [P].

朱笠 ;

况火根 ;

文冲 .

中国专利 :CN110928351A ,2020-03-27

[7]

光学检测方法及光学检测装置 [P].

安浦雅人 ;

藤卷真 ;

芦叶裕树 ;

岛隆之 .

中国专利 :CN109154561B ,2019-01-04

[8]

非线性光学器件损伤检测装置 [P].

陈旭南 ;

杜春雷 ;

罗先刚 ;

周崇喜 ;

胡承刚 .

中国专利 :CN1916747A ,2007-02-21

[9]

光学器件及光学器件的制造方法 [P].

爱迪生·古梅斯·柯曼尔古 ;

永瀬和宏 ;

栗原正明 ;

金山裕一 .

中国专利 :CN101138094A ,2008-03-05

[10]

半导体器件光学检测装置及检测方法 [P].

梁金刚 ;

陈亮 ;

许俊 .

中国专利 :CN101294864A ,2008-10-29

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