CIS电路测试探针卡

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN200920270574.5
申请日
2009-12-02
公开(公告)号
CN201662581U
公开(公告)日
2010-12-01
发明(设计)人
洪乾耀
申请人
申请人地址
中国台湾新竹市东区埔顶路18号2楼之2
IPC主分类号
G01R102
IPC分类号
G01R1073
代理机构
北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019
代理人
寿宁;张华辉
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
CIS电路测试探针卡 [P]. 
洪乾耀 .
中国专利 :CN102043072A ,2011-05-04
[2]
一种电路测试探针卡 [P]. 
殷国海 ;
金维军 .
中国专利 :CN223107892U ,2025-07-15
[3]
测试探针卡 [P]. 
王小宝 ;
周柯 .
中国专利 :CN203772909U ,2014-08-13
[4]
测试探针卡 [P]. 
王嘉煜 ;
卢忻杰 ;
李荣富 .
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[5]
高频测试探针卡 [P]. 
吴彦 .
中国专利 :CN210514408U ,2020-05-12
[6]
测试探针卡 [P]. 
刘俊良 ;
陈和也 .
中国专利 :CN120405196A ,2025-08-01
[7]
测试探针、探针卡和测试探针制造方法 [P]. 
刘俊良 ;
陈和也 ;
洪志纬 ;
千圣武 .
中国专利 :CN120405195A ,2025-08-01
[8]
WLCSP封装测试探针卡 [P]. 
郭忠山 .
中国专利 :CN214622937U ,2021-11-05
[9]
晶圆测试探针卡 [P]. 
吴梦丽 .
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[10]
晶圆测试探针卡 [P]. 
马金明 .
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