一种电路测试探针卡

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422197458.2

申请日：

2024-09-09

公开(公告)号：

CN223107892U

公开(公告)日：

2025-07-15

发明(设计)人：

殷国海金维军

申请人：

江苏芯缘半导体有限公司

申请人地址：

213000 江苏省常州市天宁区黑牡丹科技园41幢

IPC主分类号：

G01R1/073

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

安徽鼎创智信知识产权代理事务所(普通合伙) 34357

代理人：

钟延珍

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-15	授权	授权

共 50 条

[1]

CIS电路测试探针卡 [P].

洪乾耀 .

中国专利 :CN201662581U ,2010-12-01

[2]

CIS电路测试探针卡 [P].

洪乾耀 .

中国专利 :CN102043072A ,2011-05-04

[3]

测试探针卡 [P].

王小宝 ;

周柯 .

中国专利 :CN203772909U ,2014-08-13

[4]

测试探针卡 [P].

王嘉煜 ;

卢忻杰 ;

李荣富 .

中国专利 :CN202102019U ,2012-01-04

[5]

一种测试探针卡 [P].

张卫勇 ;

季寒飞 ;

吕晨昱 ;

钟志宏 .

中国专利 :CN210323143U ,2020-04-14

[6]

一种测试探针卡 [P].

孙梦思 ;

田程 ;

郭海涛 ;

梁振兴 ;

严大生 .

中国专利 :CN217034053U ,2022-07-22

[7]

一种测试探针卡 [P].

钟志宏 ;

张卫勇 ;

谢禹东 .

中国专利 :CN213780290U ,2021-07-23

[8]

WLCSP封装测试探针卡 [P].

郭忠山 .

中国专利 :CN214622937U ,2021-11-05

[9]

高频测试探针卡 [P].

吴彦 .

中国专利 :CN210514408U ,2020-05-12

[10]

测试探针卡 [P].

刘俊良 ;

陈和也 .

中国专利 :CN120405196A ,2025-08-01

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