一种测试探针卡

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921184091.3

申请日：

2019-07-24

公开(公告)号：

CN210323143U

公开(公告)日：

2020-04-14

发明(设计)人：

张卫勇季寒飞吕晨昱钟志宏

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中经济开发区越溪街道前珠路1号2幢六楼618

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

代理机构：

上海精晟知识产权代理有限公司 31253

代理人：

吴冲般

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-14	授权	授权

共 50 条

[1]

测试探针卡 [P].

王小宝 ;

周柯 .

中国专利 :CN203772909U ,2014-08-13

[2]

测试探针卡 [P].

王嘉煜 ;

卢忻杰 ;

李荣富 .

中国专利 :CN202102019U ,2012-01-04

[3]

一种测试探针卡 [P].

孙梦思 ;

田程 ;

郭海涛 ;

梁振兴 ;

严大生 .

中国专利 :CN217034053U ,2022-07-22

[4]

一种测试探针卡 [P].

钟志宏 ;

张卫勇 ;

谢禹东 .

中国专利 :CN213780290U ,2021-07-23

[5]

高频测试探针卡 [P].

吴彦 .

中国专利 :CN210514408U ,2020-05-12

[6]

测试探针卡 [P].

刘俊良 ;

陈和也 .

中国专利 :CN120405196A ,2025-08-01

[7]

一种高温测试探针卡 [P].

刘琦 ;

刘朋 .

中国专利 :CN203849299U ,2014-09-24

[8]

一种电路测试探针卡 [P].

殷国海 ;

金维军 .

中国专利 :CN223107892U ,2025-07-15

[9]

一种测试探针卡 [P].

钟志宏 ;

张卫勇 ;

谢禹东 .

中国专利 :CN112557878B ,2024-11-26

[10]

测试探针、探针卡和测试探针制造方法 [P].

刘俊良 ;

陈和也 ;

洪志纬 ;

千圣武 .

中国专利 :CN120405195A ,2025-08-01

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