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一种用原子层沉积技术生长氧化铝的工艺
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201911055242.X
申请日
:
2019-10-31
公开(公告)号
:
CN110760818A
公开(公告)日
:
2020-02-07
发明(设计)人
:
刘佳晶
陈艳明
叶武阳
温丽娜
申请人
:
申请人地址
:
130033 吉林省长春市经开区营口路18号
IPC主分类号
:
C23C1640
IPC分类号
:
C23C16455
代理机构
:
长春市吉利专利事务所 22206
代理人
:
李晓莉
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-03-03
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):C23C 16/40 申请日:20191031
2022-08-05
发明专利申请公布后的驳回
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):C23C 16/40 申请公布日:20200207
2020-02-07
公开
公开
共 50 条
[1]
一种原子层沉积超薄氧化铝薄膜的装置及方法
[P].
陈强
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陈强
;
桑利军
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桑利军
;
李兴存
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李兴存
.
中国专利
:CN101921994B
,2010-12-22
[2]
氧化铝层的沉积
[P].
梅里哈·歌德·兰维尔
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梅里哈·歌德·兰维尔
;
纳格拉杰·尚卡尔
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纳格拉杰·尚卡尔
;
卡普·斯里什·雷迪
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卡普·斯里什·雷迪
;
丹尼斯·M·豪斯曼
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丹尼斯·M·豪斯曼
.
中国专利
:CN114582709A
,2022-06-03
[3]
提高氧化铝原子层沉积速率的方法
[P].
杨淋淋
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华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
杨淋淋
;
邢中豪
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
邢中豪
;
冯秦旭
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
冯秦旭
;
林建树
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
林建树
;
梁金娥
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
梁金娥
;
李宗旭
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
李宗旭
;
张守龙
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
张守龙
.
中国专利
:CN118116791A
,2024-05-31
[4]
氧化铝蚀刻停止层的沉积
[P].
梅里哈·哥德·兰维尔
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梅里哈·哥德·兰维尔
;
纳格拉杰·尚卡尔
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纳格拉杰·尚卡尔
;
卡普·斯里什·雷迪
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卡普·斯里什·雷迪
;
丹尼斯·M·豪斯曼
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丹尼斯·M·豪斯曼
.
中国专利
:CN108133880A
,2018-06-08
[5]
一种新型氧化铝原子层沉积装置及其沉积方法
[P].
秦海丰
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秦海丰
;
李春雷
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李春雷
;
纪红
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纪红
;
赵雷超
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赵雷超
.
中国专利
:CN109423621A
,2019-03-05
[6]
一种原子层沉积技术ALD生长NiSix薄膜的方法
[P].
张羽翔
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张羽翔
;
姚川
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姚川
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张时星
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张时星
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李会
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李会
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吕春杰
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吕春杰
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赵艳玲
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赵艳玲
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周琪
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周琪
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甘娜
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甘娜
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张慧
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张慧
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阴文玉
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阴文玉
.
中国专利
:CN112442681A
,2021-03-05
[7]
一种原子层沉积技术生长NbSx薄膜的方法
[P].
丁玉强
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丁玉强
;
杜立永
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杜立永
;
王科炎
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王科炎
.
中国专利
:CN110747448A
,2020-02-04
[8]
一种原子层沉积技术生长MnxN薄膜的方法
[P].
杜立永
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杜立永
;
丁玉强
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丁玉强
.
中国专利
:CN110804731A
,2020-02-18
[9]
一种原子层沉积技术生长SnSx薄膜的方法
[P].
张羽翔
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张羽翔
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姚川
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姚川
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张艳鸽
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张艳鸽
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于东亮
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于东亮
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王松涛
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王松涛
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张时星
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张时星
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秦娜
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秦娜
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郭鑫
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郭鑫
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瞿轩轩
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瞿轩轩
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王潚君
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王潚君
;
李雪仃
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李雪仃
;
董颂扬
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董颂扬
.
中国专利
:CN114875390A
,2022-08-09
[10]
一种原子层沉积技术生长NbxC薄膜的方法
[P].
丁玉强
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丁玉强
;
何冬梅
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何冬梅
;
杜立永
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杜立永
.
中国专利
:CN112458432A
,2021-03-09
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