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测试方法和测试系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910006695.7
申请日：
2019-01-04
公开(公告)号：
CN110166145A
公开(公告)日：
2019-08-23
发明(设计)人：
郭智仁
申请人：
申请人地址：
中国台湾台北市
IPC主分类号：
H04B1710
IPC分类号：
H04B1729 H04B1711
代理机构：
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人：
黄艳
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2019-09-17 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):H04B 17/10 申请日:20190104
2021-05-25 授权 授权
2019-08-23 公开 公开
共 50 条
[1]
测试系统和测试方法 [P]. 
陈德强 ;
肖飞 .
中国专利 :CN114076889A ,2022-02-22
[2]
测试系统和测试方法 [P]. 
刘谨祯 .
中国专利 :CN113030692A ,2021-06-25
[3]
测试系统和测试方法 [P]. 
刘谨祯 .
中国专利 :CN113030692B ,2024-04-09
[4]
测试板卡、测试方法和测试系统 [P]. 
孙杨 ;
李俊杰 .
中国专利 :CN120340587A ,2025-07-18
[5]
测试系统和方法 [P]. 
D.S.格罗宁格 ;
R.C.沃德 ;
F.X.德弗罗蒙特 ;
C.M.谢菲尔 .
中国专利 :CN104884949A ,2015-09-02
[6]
霍尔器件测试系统和测试方法 [P]. 
乔景明 ;
史良俊 ;
石波 ;
陆小杰 .
中国专利 :CN112485735A ,2021-03-12
[7]
霍尔器件测试系统和测试方法 [P]. 
乔景明 ;
史良俊 ;
朱信阳 ;
李静 .
中国专利 :CN111289928B ,2020-06-16
[8]
测试方法和测试系统 [P]. 
于圣慧 .
中国专利 :CN110187250A ,2019-08-30
[9]
测试系统和测试方法 [P]. 
周孝天 .
中国专利 :CN120508088B ,2025-09-30
[10]
测试系统和测试方法 [P]. 
汪鹏 ;
杜锋 ;
夏瀚 ;
张宏琴 ;
李嘉轶 ;
邱庆兰 .
中国专利 :CN121050406A ,2025-12-02
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